塑封微电子器件绝缘性测试设备

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201120565307.8
申请日
2011-12-30
公开(公告)号
CN202394845U
公开(公告)日
2012-08-22
发明(设计)人
姚祖宏 刘飞 张树建
申请人
申请人地址
226006 江苏省南通市崇川区紫琅路99号
IPC主分类号
H01L2166
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种塑封微电子器件绝缘性测试设备 [P]. 
吴胜松 ;
叶桂如 ;
吴胜琴 .
中国专利 :CN109188212B ,2019-01-11
[2]
一种塑封微电子器件绝缘性测试设备 [P]. 
贾晓菲 .
中国专利 :CN108828417A ,2018-11-16
[3]
一种塑封微电子器件绝缘性能测试设备 [P]. 
段志伟 .
中国专利 :CN215263828U ,2021-12-21
[4]
一种可调节微电子器件绝缘测试装置 [P]. 
习建平 ;
莫维斌 .
中国专利 :CN212693939U ,2021-03-12
[5]
微电子器件 [P]. 
J·日默内·马蒂内 .
中国专利 :CN215600373U ,2022-01-21
[6]
微电子器件 [P]. 
K·维尔瓦尼 ;
K·戈帕拉克里希南 ;
R·S·谢诺伊 ;
D·S·贝休恩 ;
A·J·科洛克 .
中国专利 :CN103733337A ,2014-04-16
[7]
微电子器件 [P]. 
R·盖伊 ;
A·马扎基 .
中国专利 :CN215731714U ,2022-02-01
[8]
一种多点接触的微电子器件测试设备 [P]. 
姜鑫宇 .
中国专利 :CN216209272U ,2022-04-05
[9]
一种微电子元器件绝缘性能测试设备及测试方法 [P]. 
高国昊 .
中国专利 :CN117772644B ,2024-05-10
[10]
一种微电子元器件绝缘性能测试设备及测试方法 [P]. 
高国昊 .
中国专利 :CN117772644A ,2024-03-29