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塑封微电子器件绝缘性测试设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201120565307.8
申请日
:
2011-12-30
公开(公告)号
:
CN202394845U
公开(公告)日
:
2012-08-22
发明(设计)人
:
姚祖宏
刘飞
张树建
申请人
:
申请人地址
:
226006 江苏省南通市崇川区紫琅路99号
IPC主分类号
:
H01L2166
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2012-08-22
授权
授权
2022-01-18
专利权的终止
专利权有效期届满 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20111230 授权公告日:20120822
共 50 条
[1]
一种塑封微电子器件绝缘性测试设备
[P].
吴胜松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴胜松
;
叶桂如
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶桂如
;
吴胜琴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴胜琴
.
中国专利
:CN109188212B
,2019-01-11
[2]
一种塑封微电子器件绝缘性测试设备
[P].
贾晓菲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
贾晓菲
.
中国专利
:CN108828417A
,2018-11-16
[3]
一种塑封微电子器件绝缘性能测试设备
[P].
段志伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
段志伟
.
中国专利
:CN215263828U
,2021-12-21
[4]
一种可调节微电子器件绝缘测试装置
[P].
习建平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
习建平
;
莫维斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
莫维斌
.
中国专利
:CN212693939U
,2021-03-12
[5]
微电子器件
[P].
J·日默内·马蒂内
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
J·日默内·马蒂内
.
中国专利
:CN215600373U
,2022-01-21
[6]
微电子器件
[P].
K·维尔瓦尼
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
K·维尔瓦尼
;
K·戈帕拉克里希南
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
K·戈帕拉克里希南
;
R·S·谢诺伊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
R·S·谢诺伊
;
D·S·贝休恩
论文数:
0
引用数:
0
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0
D·S·贝休恩
;
A·J·科洛克
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
A·J·科洛克
.
中国专利
:CN103733337A
,2014-04-16
[7]
微电子器件
[P].
R·盖伊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
R·盖伊
;
A·马扎基
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
A·马扎基
.
中国专利
:CN215731714U
,2022-02-01
[8]
一种多点接触的微电子器件测试设备
[P].
姜鑫宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
姜鑫宇
.
中国专利
:CN216209272U
,2022-04-05
[9]
一种微电子元器件绝缘性能测试设备及测试方法
[P].
高国昊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
山东理工大学
山东理工大学
高国昊
.
中国专利
:CN117772644B
,2024-05-10
[10]
一种微电子元器件绝缘性能测试设备及测试方法
[P].
高国昊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
山东理工大学
山东理工大学
高国昊
.
中国专利
:CN117772644A
,2024-03-29
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