一种微电子元器件绝缘性能测试设备及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410217753.1

申请日：

2024-02-28

公开(公告)号：

CN117772644B

公开(公告)日：

2024-05-10

发明(设计)人：

高国昊

申请人：

山东理工大学

申请人地址：

255000 山东省淄博市张店区新村西路266号

IPC主分类号：

B07C5/344

IPC分类号：

B07C5/02 B07C5/38

代理机构：

淄博市众朗知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 37316

代理人：

程强强

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

山东省淄博市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):B07C 5/344申请日:20240228
2024-03-29	公开	公开
2024-05-10	授权	授权

共 50 条

[1]

一种微电子元器件绝缘性能测试设备及测试方法 [P].

高国昊 .

中国专利 :CN117772644A ,2024-03-29

[2]

一种塑封微电子器件绝缘性能测试设备 [P].

段志伟 .

中国专利 :CN215263828U ,2021-12-21

[3]

塑封微电子器件绝缘性测试设备 [P].

姚祖宏 ;

刘飞 ;

张树建 .

中国专利 :CN202394845U ,2012-08-22

[4]

一种塑封微电子器件绝缘性测试设备 [P].

吴胜松 ;

叶桂如 ;

吴胜琴 .

中国专利 :CN109188212B ,2019-01-11

[5]

一种塑封微电子器件绝缘性测试设备 [P].

贾晓菲 .

中国专利 :CN108828417A ,2018-11-16

[6]

一种用于环网柜的绝缘性能测试设备 [P].

张高轩 ;

马瑶瑶 .

中国专利 :CN121208399A ,2025-12-26

[7]

电子元器件的测试方法及测试设备 [P].

彭志珊 ;

阎跃军 .

中国专利 :CN117783608A ,2024-03-29

[8]

一种微电子元器件清洁设备及方法 [P].

夏森 ;

黄耀 ;

陈大龙 ;

芮望颐 .

中国专利 :CN108746002A ,2018-11-06

[9]

电子元器件测试设备 [P].

张勇 .

中国专利 :CN114384279A ,2022-04-22

[10]

电子元器件测试设备 [P].

姜爱兰 ;

刘勇 .

中国专利 :CN203054119U ,2013-07-10

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