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磁控溅射膜均匀度检测装置及其检测方法
被引:0
申请号
:
CN202210617018.0
申请日
:
2022-06-01
公开(公告)号
:
CN114993960A
公开(公告)日
:
2022-09-02
发明(设计)人
:
黄桃
范玉山
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市吴中区甪直镇东庄路168号6幢
IPC主分类号
:
G01N2117
IPC分类号
:
代理机构
:
苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246
代理人
:
潘志渊
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-09-20
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/17 申请日:20220601
2022-09-02
公开
公开
共 50 条
[1]
磁控溅射膜均匀度检测装置及其检测方法
[P].
黄桃
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州德耐纳米科技有限公司
苏州德耐纳米科技有限公司
黄桃
;
范玉山
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州德耐纳米科技有限公司
苏州德耐纳米科技有限公司
范玉山
.
中国专利
:CN114993960B
,2025-02-11
[2]
均匀度检测支架及均匀度检测装置
[P].
曲健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曲健
.
中国专利
:CN211347085U
,2020-08-25
[3]
油墨均匀度检测装置
[P].
胡宸恺
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
胡宸恺
.
中国专利
:CN217227066U
,2022-08-19
[4]
线缆均匀度检测装置
[P].
汪振武
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
汪振武
.
中国专利
:CN208786967U
,2019-04-26
[5]
广角镜头成像均匀度检测装置及其检测方法
[P].
唐家澍
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海广智光学实业有限公司
上海广智光学实业有限公司
唐家澍
.
中国专利
:CN117949180A
,2024-04-30
[6]
离子束均匀度检测装置及检测方法
[P].
李斌
论文数:
0
引用数:
0
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0
李斌
;
庞闻
论文数:
0
引用数:
0
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0
庞闻
;
苏文华
论文数:
0
引用数:
0
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0
苏文华
;
李家军
论文数:
0
引用数:
0
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0
李家军
.
中国专利
:CN111830553A
,2020-10-27
[7]
一种透光均匀度检测装置及检测方法
[P].
齐增利
论文数:
0
引用数:
0
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0
齐增利
.
中国专利
:CN114577756B
,2022-06-03
[8]
激光光纤均匀度检测装置
[P].
吴荣亮
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市雷迈科技有限公司
深圳市雷迈科技有限公司
吴荣亮
;
杜毅
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市雷迈科技有限公司
深圳市雷迈科技有限公司
杜毅
;
曾世忠
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市雷迈科技有限公司
深圳市雷迈科技有限公司
曾世忠
;
李中杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市雷迈科技有限公司
深圳市雷迈科技有限公司
李中杰
;
兰馨月
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市雷迈科技有限公司
深圳市雷迈科技有限公司
兰馨月
.
中国专利
:CN221078014U
,2024-06-04
[9]
导光板光源均匀度检测装置
[P].
徐超
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
江西省滔柏光电科技有限公司
江西省滔柏光电科技有限公司
徐超
;
杨志保
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
江西省滔柏光电科技有限公司
江西省滔柏光电科技有限公司
杨志保
.
中国专利
:CN221037946U
,2024-05-28
[10]
镀膜玻璃色差均匀度检测装置
[P].
阮洪良
论文数:
0
引用数:
0
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0
阮洪良
.
中国专利
:CN202453081U
,2012-09-26
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