一种空管测试探针

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN200720108337.X
申请日
2007-04-19
公开(公告)号
CN201041571Y
公开(公告)日
2008-03-26
发明(设计)人
沈芳珍 周燕明
申请人
申请人地址
315336浙江省慈溪市慈溪经济开发区浦东村浦东
IPC主分类号
G01R1067
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片测试探针 [P]. 
何俊 .
中国专利 :CN220305392U ,2024-01-05
[2]
一种绝缘测试探针 [P]. 
沈芳珍 ;
周燕明 .
中国专利 :CN201037848Y ,2008-03-19
[3]
测试探针 [P]. 
蔡兴杰 .
中国专利 :CN221378066U ,2024-07-19
[4]
测试探针 [P]. 
蔡宗明 ;
曾翔 ;
蔡明峻 ;
李尧 .
中国专利 :CN213750022U ,2021-07-20
[5]
测试探针 [P]. 
赵悦春 ;
冯志永 ;
邹健 ;
孙谢杨 ;
陈骏 ;
李建鹏 ;
张浩 ;
孙昊 ;
赵峥 ;
王爱政 ;
朱凯 ;
朱爽 .
中国专利 :CN223411879U ,2025-10-03
[6]
一种测试探针 [P]. 
沈芳珍 ;
周燕明 .
中国专利 :CN201355367Y ,2009-12-02
[7]
一种测试探针 [P]. 
王剑 ;
王焱 .
中国专利 :CN206420919U ,2017-08-18
[8]
一种测试探针 [P]. 
蒋卫兵 ;
吴学军 .
中国专利 :CN220709233U ,2024-04-02
[9]
一种测试探针 [P]. 
朱兰兰 ;
伏进文 ;
费正洪 .
中国专利 :CN209606481U ,2019-11-08
[10]
测试探针 [P]. 
吴志成 ;
杨昌国 .
中国专利 :CN2491846Y ,2002-05-15