一种测试探针

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专利类型
实用新型
申请号
CN200920114182.X
申请日
2009-02-26
公开(公告)号
CN201355367Y
公开(公告)日
2009-12-02
发明(设计)人
沈芳珍 周燕明
申请人
申请人地址
315336浙江省慈溪市慈溪经济开发区浦东村浦东
IPC主分类号
G01R1067
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
专利实施许可合同备案的生效、变更及注销
国省代码
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共 50 条
[1]
一种测试探针 [P]. 
沈芳珍 ;
周燕明 .
中国专利 :CN201359614Y ,2009-12-09
[2]
一种绝缘测试探针 [P]. 
沈芳珍 ;
周燕明 .
中国专利 :CN201037848Y ,2008-03-19
[3]
一种双头测试探针 [P]. 
沈芳珍 ;
周燕明 .
中国专利 :CN201035046Y ,2008-03-12
[4]
一种电池测试探针 [P]. 
陈文钢 .
中国专利 :CN208568873U ,2019-03-01
[5]
一种芯片测试探针 [P]. 
何俊 .
中国专利 :CN220305392U ,2024-01-05
[6]
一种ICT测试探针 [P]. 
沈芳珍 ;
周燕明 .
中国专利 :CN201993392U ,2011-09-28
[7]
一种测试探针装置 [P]. 
黄韬 .
中国专利 :CN104865426B ,2015-08-26
[8]
一种高密度测试探针 [P]. 
沈芳珍 ;
周燕明 .
中国专利 :CN201212895Y ,2009-03-25
[9]
一种空管测试探针 [P]. 
沈芳珍 ;
周燕明 .
中国专利 :CN201041571Y ,2008-03-26
[10]
一种测试探针装置 [P]. 
黄韬 .
中国专利 :CN204649792U ,2015-09-16