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一种测试探针装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201510235713.0
申请日：
2015-05-11
公开(公告)号：
CN104865426B
公开(公告)日：
2015-08-26
发明(设计)人：
黄韬
申请人：
申请人地址：
211100 江苏省南京市吉印大道3128号
IPC主分类号：
G01R1067
IPC分类号：
代理机构：
北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250
代理人：
鲍相如
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2015-08-26 公开 公开
2017-11-03 授权 授权
共 50 条
[1]
一种测试探针装置 [P]. 
黄韬 .
中国专利 :CN204649792U ,2015-09-16
[2]
测试探针装置 [P]. 
谭艳萍 ;
黄俊华 ;
廉成 ;
宋福民 ;
高云峰 .
中国专利 :CN103513069A ,2014-01-15
[3]
一种测试探针 [P]. 
沈芳珍 ;
周燕明 .
中国专利 :CN201355367Y ,2009-12-02
[4]
一种测试探针 [P]. 
方经军 .
中国专利 :CN223038011U ,2025-06-27
[5]
一种测试探针 [P]. 
沈芳珍 ;
周燕明 .
中国专利 :CN201359614Y ,2009-12-09
[6]
一种测试探针 [P]. 
聂林红 .
中国专利 :CN204101604U ,2015-01-14
[7]
测试探针、测试探针组件及测试平台 [P]. 
聂林红 .
中国专利 :CN105308464A ,2016-02-03
[8]
一种芯片测试探针装置 [P]. 
张振峰 ;
杨国良 ;
邱德明 .
中国专利 :CN211905577U ,2020-11-10
[9]
双筒测试探针装置 [P]. 
张春元 ;
金传国 ;
赵青 .
中国专利 :CN223051471U ,2025-07-01
[10]
一种芯片测试探针装置 [P]. 
曾丹萍 ;
秦超强 .
中国专利 :CN216434188U ,2022-05-03
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