一种测试探针装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520299049.1

申请日：

2015-05-11

公开(公告)号：

CN204649792U

公开(公告)日：

2015-09-16

发明(设计)人：

黄韬

申请人：

申请人地址：

211100 江苏省南京市吉印大道3128号

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

代理机构：

北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250

代理人：

鲍相如

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-09-16	授权	授权
2017-11-03	避免重复授权放弃专利权	避免重复授予专利权 IPC(主分类):G01R 1/067 申请日:20150511 授权公告日:20150916 放弃生效日:20171103

共 50 条

[1]

一种测试探针装置 [P].

黄韬 .

中国专利 :CN104865426B ,2015-08-26

[2]

测试探针装置 [P].

谭艳萍 ;

黄俊华 ;

廉成 ;

宋福民 ;

高云峰 .

中国专利 :CN103513069A ,2014-01-15

[3]

一种测试探针 [P].

沈芳珍 ;

周燕明 .

中国专利 :CN201355367Y ,2009-12-02

[4]

一种测试探针 [P].

方经军 .

中国专利 :CN223038011U ,2025-06-27

[5]

一种测试探针 [P].

沈芳珍 ;

周燕明 .

中国专利 :CN201359614Y ,2009-12-09

[6]

一种测试探针 [P].

聂林红 .

中国专利 :CN204101604U ,2015-01-14

[7]

测试探针、测试探针组件及测试平台 [P].

聂林红 .

中国专利 :CN105308464A ,2016-02-03

[8]

一种芯片测试探针装置 [P].

张振峰 ;

杨国良 ;

邱德明 .

中国专利 :CN211905577U ,2020-11-10

[9]

双筒测试探针装置 [P].

张春元 ;

金传国 ;

赵青 .

中国专利 :CN223051471U ,2025-07-01

[10]

一种芯片测试探针装置 [P].

曾丹萍 ;

秦超强 .

中国专利 :CN216434188U ,2022-05-03

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