用于电子设备的测试方法和测试装置

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专利类型
发明
申请号
CN201710486781.3
申请日
2017-06-23
公开(公告)号
CN109117358A
公开(公告)日
2019-01-01
发明(设计)人
梁刚强
申请人
申请人地址
100085 北京市海淀区上地十街10号百度大厦三层
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204
代理人
王达佐;马晓亚
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
测试装置、测试方法和电子设备 [P]. 
朱笠 .
中国专利 :CN120993264A ,2025-11-21
[2]
测试方法、测试装置和电子设备 [P]. 
陈军 ;
杨天子 ;
苏展雯 ;
何文平 ;
陈刚 .
中国专利 :CN119725129B ,2025-11-21
[3]
测试方法、测试装置和电子设备 [P]. 
陈军 ;
杨天子 ;
苏展雯 ;
何文平 ;
陈刚 .
中国专利 :CN119725129A ,2025-03-28
[4]
用于测试电子设备的测试装置及方法 [P]. 
温亚远 ;
魏大卫 ;
解梅 ;
杨丽娟 .
中国专利 :CN117376803A ,2024-01-09
[5]
测试方法、测试装置、芯片和电子设备 [P]. 
严铠锋 ;
贾六伟 .
中国专利 :CN120629884A ,2025-09-12
[6]
测试装置和电子设备 [P]. 
杨鑫 .
中国专利 :CN111682906B ,2020-09-18
[7]
用于电子设备的温度测试的测试装置 [P]. 
B·D·潘 ;
A·达涅什加 .
美国专利 :CN117678331A ,2024-03-08
[8]
电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统 [P]. 
谭泽汉 ;
牛安 ;
彭志富 .
中国专利 :CN103631246A ,2014-03-12
[9]
电流测试装置、电流测试方法和电子设备 [P]. 
王成刚 .
中国专利 :CN112858756B ,2024-03-08
[10]
电流测试装置、电流测试方法和电子设备 [P]. 
王成刚 .
中国专利 :CN112858756A ,2021-05-28