用于测试电子设备的测试装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210772315.2

申请日：

2022-06-30

公开(公告)号：

CN117376803A

公开(公告)日：

2024-01-09

发明(设计)人：

温亚远魏大卫解梅杨丽娟

申请人：

上海桔晟科技有限公司

申请人地址：

200131 上海市浦东新区自由贸易试验区富特东三路526号1幢第三层317部位

IPC主分类号：

H04R29/00

IPC分类号：

H04R3/00 G01R31/00

代理机构：

深圳市智圈知识产权代理事务所(普通合伙) 44351

代理人：

苗燕

法律状态：

公开

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-09	公开	公开
2024-01-26	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H04R 29/00申请日:20220630

共 50 条

[1]

测试方法、测试装置及电子设备 [P].

孙文庆 ;

王峻 ;

朱林 ;

陈秋华 ;

刘慧 ;

杨萌 .

中国专利 :CN119847914A ,2025-04-18

[2]

用于电子设备的测试方法和测试装置 [P].

梁刚强 .

中国专利 :CN109117358A ,2019-01-01

[3]

用于无线设备的测试方法、系统、电子设备及测试装置 [P].

闫日亮 .

中国专利 :CN111212387A ,2020-05-29

[4]

存储设备的测试方法、电子设备及测试装置 [P].

李修录 ;

朱小聪 ;

尹善腾 .

中国专利 :CN120183473B ,2025-09-16

[5]

存储设备的测试方法、电子设备及测试装置 [P].

李修录 ;

朱小聪 ;

尹善腾 .

中国专利 :CN120183473A ,2025-06-20

[6]

测试方法、测试装置、电子设备及介质 [P].

郭晓磊 ;

高攀 ;

崔斯腾 ;

刘颖 .

中国专利 :CN111651360A ,2020-09-11

[7]

用于电子设备的温度测试的测试装置 [P].

B·D·潘 ;

A·达涅什加 .

美国专利 :CN117678331A ,2024-03-08

[8]

测试系统、测试装置及电子设备 [P].

陶晖 ;

刘绿山 .

中国专利 :CN221806999U ,2024-10-01

[9]

用于电子设备的功率测试装置及方法 [P].

刘建 ;

欧阳曾恺 ;

赵双双 ;

徐晴 ;

段梅梅 ;

田正其 ;

周超 ;

夏国芳 .

中国专利 :CN112327048A ,2021-02-05

[10]

测试装置及电子设备 [P].

汪兴友 ;

岳小卫 ;

刘龑 .

中国专利 :CN216595398U ,2022-05-24

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