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存储设备的测试方法、电子设备及测试装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510638383.3
申请日：
2025-05-19
公开(公告)号：
CN120183473A
公开(公告)日：
2025-06-20
发明(设计)人：
李修录 朱小聪 尹善腾
申请人：
深圳市安信达存储技术有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区新桥街道黄埔社区洪田路155号创新智慧港1栋1005
IPC主分类号：
G11C29/08
IPC分类号：
G11C29/56
代理机构：
深圳市华盛智荟知识产权代理事务所(普通合伙) 44604
代理人：
胡国英
法律状态：
公开
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-20 公开 公开
2025-07-08 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/08申请日:20250519
2025-09-16 授权 授权
共 50 条
[1]
存储设备的测试方法、电子设备及测试装置 [P]. 
李修录 ;
朱小聪 ;
尹善腾 .
中国专利 :CN120183473B ,2025-09-16
[2]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
水洋为 ;
唐苗苗 ;
孙铭鸿 .
中国专利 :CN120631754A ,2025-09-12
[3]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王越 ;
王欣 ;
李佩刚 ;
苏畅 ;
周荣林 ;
高建瓴 .
中国专利 :CN113220597B ,2024-04-16
[4]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张珺 ;
农华莲 ;
韩照光 .
中国专利 :CN113297088A ,2021-08-24
[5]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王越 ;
王欣 ;
李佩刚 ;
苏畅 ;
周荣林 ;
高建瓴 .
中国专利 :CN113220597A ,2021-08-06
[6]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
赵建秀 .
中国专利 :CN113190456B ,2024-03-26
[7]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
赵建秀 .
中国专利 :CN113190456A ,2021-07-30
[8]
测试方法、测试装置、存储介质及电子设备 [P]. 
刘孙春 .
中国专利 :CN118694840A ,2024-09-24
[9]
模型测试方法、模型测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
田晓姣 .
中国专利 :CN115344501A ,2022-11-15
[10]
测试方法、测试装置及电子设备 [P]. 
孙文庆 ;
王峻 ;
朱林 ;
陈秋华 ;
刘慧 ;
杨萌 .
中国专利 :CN119847914A ,2025-04-18
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