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存储设备的测试方法、电子设备及测试装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510638383.3
申请日：
2025-05-19
公开(公告)号：
CN120183473A
公开(公告)日：
2025-06-20
发明(设计)人：
李修录 朱小聪 尹善腾
申请人：
深圳市安信达存储技术有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区新桥街道黄埔社区洪田路155号创新智慧港1栋1005
IPC主分类号：
G11C29/08
IPC分类号：
G11C29/56
代理机构：
深圳市华盛智荟知识产权代理事务所(普通合伙) 44604
代理人：
胡国英
法律状态：
公开
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-20 公开 公开
2025-07-08 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/08申请日:20250519
2025-09-16 授权 授权
共 50 条
[41]
电子设备的测试装置 [P]. 
常明 ;
王广西 .
中国专利 :CN106597169A ,2017-04-26
[42]
电子设备的测试装置 [P]. 
陈鹏 .
中国专利 :CN110501641A ,2019-11-26
[43]
电子设备的测试装置 [P]. 
蒋天仁 .
中国专利 :CN2874525Y ,2007-02-28
[44]
电子设备的测试装置 [P]. 
常明 ;
王广西 .
中国专利 :CN206583981U ,2017-10-24
[45]
电子设备的测试装置 [P]. 
陈立明 ;
陈华军 ;
郭晓斌 ;
许爱东 ;
袁小凯 ;
黄文琦 ;
黄建理 ;
杜金燃 ;
卢耿城 .
中国专利 :CN205692155U ,2016-11-16
[46]
存储设备测试方法、装置及电子设备 [P]. 
魏远甲 .
中国专利 :CN120708687A ,2025-09-26
[47]
IGBT器件的测试装置、测试方法及电子设备 [P]. 
张西子 ;
张喆 ;
吴军民 ;
唐新灵 ;
林仲康 ;
王亮 ;
石浩 ;
韩荣刚 ;
杜玉杰 ;
孙帅 .
中国专利 :CN111426931A ,2020-07-17
[48]
包车系统的测试方法及测试装置、电子设备 [P]. 
张淞 ;
钟杰 ;
张弘昊 .
中国专利 :CN112631940B ,2025-02-28
[49]
包车系统的测试方法及测试装置、电子设备 [P]. 
张淞 ;
钟杰 ;
张弘昊 .
中国专利 :CN112631940A ,2021-04-09
[50]
单板测试装置、方法、电子设备及存储介质 [P]. 
刘瀛 ;
侯佳振 ;
叶波 ;
曹火焰 ;
王振华 ;
边远 .
中国专利 :CN118131002A ,2024-06-04
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