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存储设备的测试方法、电子设备及测试装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510638383.3
申请日：
2025-05-19
公开(公告)号：
CN120183473A
公开(公告)日：
2025-06-20
发明(设计)人：
李修录 朱小聪 尹善腾
申请人：
深圳市安信达存储技术有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区新桥街道黄埔社区洪田路155号创新智慧港1栋1005
IPC主分类号：
G11C29/08
IPC分类号：
G11C29/56
代理机构：
深圳市华盛智荟知识产权代理事务所(普通合伙) 44604
代理人：
胡国英
法律状态：
公开
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-20 公开 公开
2025-07-08 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/08申请日:20250519
2025-09-16 授权 授权
共 50 条
[21]
测试装置及电子设备 [P]. 
陈庆伦 ;
杨智超 .
中国专利 :CN113671350B ,2024-02-27
[22]
测试装置及电子设备 [P]. 
陈庆伦 ;
杨智超 .
中国专利 :CN113671350A ,2021-11-19
[23]
测试系统、测试装置及电子设备 [P]. 
陶晖 ;
刘绿山 .
中国专利 :CN221806999U ,2024-10-01
[24]
性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P]. 
梁冬冬 .
中国专利 :CN111045911A ,2020-04-21
[25]
性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P]. 
梁冬冬 .
中国专利 :CN111045911B ,2024-04-16
[26]
测试方法、测试装置、电子设备、可读存储介质和芯片 [P]. 
王千一 ;
苏科伟 ;
韩玮 ;
宋胜男 ;
陈卓 ;
胥凤驰 ;
马向峰 ;
李哲 ;
刘如磊 ;
董钉 ;
曾江峰 .
中国专利 :CN120046235A ,2025-05-27
[27]
球管的测试装置、测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
潘奥 ;
田佳甲 ;
张棋 .
中国专利 :CN115184256B ,2025-05-30
[28]
器件失效测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张楠 ;
冯慧 ;
高会壮 ;
谭士海 ;
王长鑫 ;
刘恒 .
中国专利 :CN119575125A ,2025-03-07
[29]
帧率测试方法、帧率测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何玮 .
中国专利 :CN117880489A ,2024-04-12
[30]
接口测试方法、接口测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈宇 ;
张绪强 ;
兰艳 ;
白鑫贝 ;
王耀威 ;
郑清芳 ;
熊雪菲 ;
袁锦宇 .
中国专利 :CN121029586A ,2025-11-28
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