存储设备的测试方法、电子设备及测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510638383.3
申请日
2025-05-19
公开(公告)号
CN120183473A
公开(公告)日
2025-06-20
发明(设计)人
李修录 朱小聪 尹善腾
申请人
深圳市安信达存储技术有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市宝安区新桥街道黄埔社区洪田路155号创新智慧港1栋1005
IPC主分类号
G11C29/08
IPC分类号
G11C29/56
代理机构
深圳市华盛智荟知识产权代理事务所(普通合伙) 44604
代理人
胡国英
法律状态
公开
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[11]
调焦环寿命测试装置、寿命测试方法及电子设备 [P]. 
麦晓杰 ;
朱文华 ;
姜祁翎 ;
刘奕川 ;
邓善乐 ;
冯华轩 .
中国专利 :CN117782552A ,2024-03-29
[12]
设备测试方法、设备测试装置、电子设备和存储介质 [P]. 
王哲夫 ;
李航 .
中国专利 :CN119003304A ,2024-11-22
[13]
测试方法、测试装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
钟瑞 ;
郑重 ;
刘明磊 ;
陈壮壮 .
中国专利 :CN111813694B ,2024-03-15
[14]
测试方法、测试装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
钟瑞 ;
郑重 ;
刘明磊 ;
陈壮壮 .
中国专利 :CN111813694A ,2020-10-23
[15]
电子设备测试装置及电子设备 [P]. 
高涛 ;
丁双朋 ;
覃达开 ;
杨冰泉 ;
白浪 .
中国专利 :CN109085391A ,2018-12-25
[16]
多设备软件测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
邓攀 ;
宣龙华 ;
贾双成 .
中国专利 :CN112286834B ,2021-01-29
[17]
用于测试电子设备的测试装置及方法 [P]. 
温亚远 ;
魏大卫 ;
解梅 ;
杨丽娟 .
中国专利 :CN117376803A ,2024-01-09
[18]
测试方法、测试装置、电子设备及介质 [P]. 
郭晓磊 ;
高攀 ;
崔斯腾 ;
刘颖 .
中国专利 :CN111651360A ,2020-09-11
[19]
测试方法、测试装置、电子设备和存储介质 [P]. 
夏仕钦 .
中国专利 :CN118051422A ,2024-05-17
[20]
测试装置及电子设备 [P]. 
汪兴友 ;
岳小卫 ;
刘龑 .
中国专利 :CN216595398U ,2022-05-24