接口测试方法、接口测试装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511047091.9

申请日：

2025-07-28

公开(公告)号：

CN121029586A

公开(公告)日：

2025-11-28

发明(设计)人：

陈宇张绪强兰艳白鑫贝王耀威郑清芳熊雪菲袁锦宇

申请人：

鹏城实验室

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区兴科一街2号

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

赵津

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20250728
2025-11-28	公开	公开

共 50 条

[1]

接口测试方法、接口测试装置、电子设备及存储介质 [P].

程学峰 ;

龚春燕 ;

徐志成 .

中国专利 :CN109446071A ,2019-03-08

[2]

接口测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

翟宏 .

中国专利 :CN114116519A ,2022-03-01

[3]

接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈锐 ;

王阳 ;

张银红 ;

孙江凡 .

中国专利 :CN113760687A ,2021-12-07

[4]

接口测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

刘彬伟 ;

李德才 ;

沈玮一 ;

刘旭宏 .

中国专利 :CN109189622A ,2019-01-11

[5]

接口测试方法及装置、电子设备及存储介质 [P].

钱玉东 ;

尹江平 ;

徐仁柏 .

中国专利 :CN117493188A ,2024-02-02

[6]

接口测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

王娟 .

中国专利 :CN117520139A ,2024-02-06

[7]

接口测试方法、接口测试装置及存储介质 [P].

杨浩文 .

中国专利 :CN111061637A ,2020-04-24

[8]

接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张星亮 ;

丁湘和 .

中国专利 :CN112363948A ,2021-02-12

[9]

接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张星亮 ;

丁湘和 .

中国专利 :CN112363948B ,2024-04-09

[10]

接口测试方法、接口测试装置和电子设备 [P].

邢旺 ;

熊斯衍 ;

刘任 .

中国专利 :CN106909481B ,2017-06-30

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