接口测试方法、系统、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210910717.4

申请日：

2022-07-29

公开(公告)号：

CN117520139A

公开(公告)日：

2024-02-06

发明(设计)人：

王娟

申请人：

北京国双科技有限公司

申请人地址：

100083 北京市海淀区北四环中路229号海泰大厦4层南401号

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

代理机构：

北京润平知识产权代理有限公司 11283

代理人：

陈潇潇

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-06	公开	公开
2024-02-27	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20220729

共 50 条

[1]

接口测试方法及装置、电子设备及存储介质 [P].

钱玉东 ;

尹江平 ;

徐仁柏 .

中国专利 :CN117493188A ,2024-02-02

[2]

接口测试方法、接口测试装置、电子设备及存储介质 [P].

陈宇 ;

张绪强 ;

兰艳 ;

白鑫贝 ;

王耀威 ;

郑清芳 ;

熊雪菲 ;

袁锦宇 .

中国专利 :CN121029586A ,2025-11-28

[3]

接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈锐 ;

王阳 ;

张银红 ;

孙江凡 .

中国专利 :CN113760687A ,2021-12-07

[4]

接口测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

刘彬伟 ;

李德才 ;

沈玮一 ;

刘旭宏 .

中国专利 :CN109189622A ,2019-01-11

[5]

写接口存储质量测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

许力强 .

中国专利 :CN113836016B ,2024-03-26

[6]

写接口存储质量测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

许力强 .

中国专利 :CN113836016A ,2021-12-24

[7]

白盒接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

韩涵 .

中国专利 :CN115454818A ,2022-12-09

[8]

接口测试方法、装置、系统、电子设备和存储介质 [P].

刘露平 ;

刘巍 ;

车婷婷 ;

黄明明 .

中国专利 :CN115952100B ,2024-07-12

[9]

一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨佩臻 ;

晁璐 ;

史延昌 ;

樊志甲 ;

苏浩伟 ;

孙蔚 .

中国专利 :CN120336169A ,2025-07-18

[10]

接口测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

翟宏 .

中国专利 :CN114116519A ,2022-03-01

← 1 2 3 4 5 →