高频芯片测试定制夹治具

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201921843642.2
申请日
2019-10-29
公开(公告)号
CN211374817U
公开(公告)日
2020-08-28
发明(设计)人
程忠光 张猛
申请人
申请人地址
510000 广东省深圳市南山区西丽街道新围社区新围旺棠工业区13栋厂房一层西区新高路141号1楼104
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3128
代理机构
深圳虚谷纳智知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44417
代理人
周皓
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
高频芯片测试定制夹治具 [P]. 
程忠光 ;
张猛 .
中国专利 :CN112748374A ,2021-05-04
[2]
一种芯片测试定位治具 [P]. 
程厚明 .
中国专利 :CN215728615U ,2022-02-01
[3]
测试定位治具 [P]. 
严兵 ;
刘成 ;
张可可 ;
施刘生 .
中国专利 :CN206248449U ,2017-06-13
[4]
一种芯片测试治具 [P]. 
李刚 .
中国专利 :CN214041653U ,2021-08-24
[5]
芯片测试治具 [P]. 
杨建 ;
刘志维 ;
汪迪 ;
张先俊 .
中国专利 :CN220752138U ,2024-04-09
[6]
芯片测试治具 [P]. 
孙圣钦 .
中国专利 :CN209673621U ,2019-11-22
[7]
芯片测试治具 [P]. 
唐甘霖 .
中国专利 :CN213149029U ,2021-05-07
[8]
芯片测试治具 [P]. 
崔强 ;
许招辉 .
中国专利 :CN214895433U ,2021-11-26
[9]
芯片测试治具 [P]. 
何煦 .
中国专利 :CN201434875Y ,2010-03-31
[10]
芯片测试治具 [P]. 
顾明华 .
中国专利 :CN213578641U ,2021-06-29