一种测试方法、系统、设备以及介质

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专利类型
发明
申请号
CN202111237010.3
申请日
2021-10-24
公开(公告)号
CN114064457A
公开(公告)日
2022-02-18
发明(设计)人
李二真
申请人
申请人地址
450018 河南省郑州市郑东新区心怡路278号16层1601室
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
G06F16906
代理机构
北京连和连知识产权代理有限公司 11278
代理人
杨帆;李红萧
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
丁凯 .
中国专利 :CN112306866A ,2021-02-02
[2]
一种系统测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
张震 .
中国专利 :CN114138627A ,2022-03-04
[3]
一种系统测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
张震 .
中国专利 :CN114138627B ,2025-08-26
[4]
一种压力测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
郝良晟 .
中国专利 :CN114116334A ,2022-03-01
[5]
一种FPGA的测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
王芳 ;
任明刚 ;
曹蓓 ;
吴睿振 ;
崔健 .
中国专利 :CN114138570A ,2022-03-04
[6]
一种硬盘压力测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
赵金 ;
刘哲 ;
王鑫 .
中国专利 :CN114550798B ,2024-10-22
[7]
一种测试环境开发方法、系统、设备以及介质 [P]. 
李岩 ;
邵海波 .
中国专利 :CN114756463A ,2022-07-15
[8]
一种指令跟踪测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
龚恺文 ;
邵海波 .
中国专利 :CN114610649A ,2022-06-10
[9]
一种机械硬盘测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
路勤良 .
中国专利 :CN114005485A ,2022-02-01
[10]
一种CPU测试方法、系统、设备以及存储介质 [P]. 
黄岚岚 .
中国专利 :CN115098315A ,2022-09-23