一种测试方法、系统、设备以及介质

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专利类型
发明
申请号
CN202011158947.7
申请日
2020-10-26
公开(公告)号
CN112306866A
公开(公告)日
2021-02-02
发明(设计)人
丁凯
申请人
申请人地址
215100 江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京连和连知识产权代理有限公司 11278
代理人
刘小峰;李红萧
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
李二真 .
中国专利 :CN114064457A ,2022-02-18
[2]
一种系统测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
张震 .
中国专利 :CN114138627A ,2022-03-04
[3]
一种系统测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
张震 .
中国专利 :CN114138627B ,2025-08-26
[4]
一种压力测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
郝良晟 .
中国专利 :CN114116334A ,2022-03-01
[5]
一种FPGA的测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
王芳 ;
任明刚 ;
曹蓓 ;
吴睿振 ;
崔健 .
中国专利 :CN114138570A ,2022-03-04
[6]
一种硬盘压力测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
赵金 ;
刘哲 ;
王鑫 .
中国专利 :CN114550798B ,2024-10-22
[7]
一种测试环境开发方法、系统、设备以及介质 [P]. 
李岩 ;
邵海波 .
中国专利 :CN114756463A ,2022-07-15
[8]
一种指令跟踪测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
龚恺文 ;
邵海波 .
中国专利 :CN114610649A ,2022-06-10
[9]
一种机械硬盘测试方法、系统、设备以及介质 [P]. 
路勤良 .
中国专利 :CN114005485A ,2022-02-01
[10]
一种CPU测试方法、系统、设备以及存储介质 [P]. 
黄岚岚 .
中国专利 :CN115098315A ,2022-09-23