IC测试治具

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN200720040722.5
申请日
2007-07-13
公开(公告)号
CN201075114Y
公开(公告)日
2008-06-18
发明(设计)人
王荣 高炳锋
申请人
申请人地址
215011江苏省苏州市新区鹿山路369号国家环保产业园5栋
IPC主分类号
G01R102
IPC分类号
G01R1073 G01R118 G01R3100 G01R3128
代理机构
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人
马明渡
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
测试治具 [P]. 
黄锦章 .
中国专利 :CN202837433U ,2013-03-27
[2]
测试治具 [P]. 
黄芳 ;
徐磊 ;
雷浩琳 ;
杨燕鹏 .
中国专利 :CN222994544U ,2025-06-17
[3]
测试治具 [P]. 
施伟 ;
肖滨 ;
李刚 .
中国专利 :CN216717791U ,2022-06-10
[4]
测试治具 [P]. 
陈添旭 .
中国专利 :CN206100168U ,2017-04-12
[5]
测试治具 [P]. 
陈添旭 .
中国专利 :CN206100167U ,2017-04-12
[6]
测试治具 [P]. 
陈鹏 ;
蔺永祥 ;
毕哲哲 .
中国专利 :CN210090561U ,2020-02-18
[7]
测试治具 [P]. 
杨泽新 .
中国专利 :CN206100169U ,2017-04-12
[8]
测试治具 [P]. 
黄敏 ;
陈志丰 .
中国专利 :CN201464496U ,2010-05-12
[9]
测试治具 [P]. 
李隆 ;
郑镇城 ;
徐连城 ;
夏璐 .
中国专利 :CN215931546U ,2022-03-01
[10]
测试治具 [P]. 
黄俊耀 ;
陈信文 ;
赖文清 ;
陈贻光 .
中国专利 :CN205656206U ,2016-10-19