测试治具

被引：0

申请号：

CN202220092095.4

申请日：

2022-01-14

公开(公告)号：

CN216717791U

公开(公告)日：

2022-06-10

发明(设计)人：

施伟肖滨李刚

申请人：

申请人地址：

215300 江苏省苏州市昆山开发区前进东路88号6号楼M1A栋2楼

IPC主分类号：

G01M1300

IPC分类号：

G01D1100

代理机构：

上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294

代理人：

高翠花

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-10	授权	授权

共 50 条

[1]

测试治具 [P].

黄锦章 .

中国专利 :CN202837433U ,2013-03-27

[2]

测试治具 [P].

陈添旭 .

中国专利 :CN206100168U ,2017-04-12

[3]

测试治具 [P].

陈添旭 .

中国专利 :CN206100167U ,2017-04-12

[4]

测试治具 [P].

陈鹏 ;

蔺永祥 ;

毕哲哲 .

中国专利 :CN210090561U ,2020-02-18

[5]

测试治具 [P].

杨泽新 .

中国专利 :CN206100169U ,2017-04-12

[6]

测试治具 [P].

黄俊耀 ;

陈信文 ;

赖文清 ;

陈贻光 .

中国专利 :CN205656206U ,2016-10-19

[7]

芯片测试治具 [P].

崔强 ;

许招辉 .

中国专利 :CN214895433U ,2021-11-26

[8]

IC测试治具 [P].

王荣 ;

高炳锋 .

中国专利 :CN201075114Y ,2008-06-18

[9]

探针测试治具 [P].

涂炳超 .

中国专利 :CN222965386U ,2025-06-10

[10]

芯片测试治具 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

杨鹏亮 .

中国专利 :CN218298437U ,2023-01-13

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