基于拉曼光谱测试技术的半导体薄膜热导率分析方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810667559.8
申请日
2018-06-26
公开(公告)号
CN109060759B
公开(公告)日
2018-12-21
发明(设计)人
郭怀新 李忠辉 尹志军 陈堂胜
申请人
申请人地址
210016 江苏省南京市中山东路524号
IPC主分类号
G01N2165
IPC分类号
G01N2520
代理机构
南京理工大学专利中心 32203
代理人
陈鹏
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
基于泵浦探测拉曼光谱的半导体导热系数测试方法和装置 [P]. 
邵军 ;
陈熙仁 ;
刘浩然 .
中国专利 :CN116297399B ,2025-09-12
[2]
基于红外热成像法的薄膜热导率分析方法 [P]. 
郭怀新 ;
孔月婵 ;
陈堂胜 .
中国专利 :CN109001250A ,2018-12-14
[3]
一种基于表面增强拉曼光谱技术的泪液测试方法 [P]. 
李炜 ;
任斌 ;
张丽颖 ;
胡佩 ;
邹笃雷 ;
刘祖国 .
中国专利 :CN103604794A ,2014-02-26
[4]
基于级联光谱仪的拉曼光谱测试系统及其测试方法 [P]. 
罗湘雯 ;
朱剑 ;
马晖 ;
储瑞巍 ;
邹佳宁 .
中国专利 :CN118483211A ,2024-08-13
[5]
基于级联光谱仪的拉曼光谱测试系统及其测试方法 [P]. 
罗湘雯 ;
朱剑 ;
马晖 ;
储瑞巍 ;
邹佳宁 .
中国专利 :CN118483211B ,2025-01-28
[6]
导体薄膜热导率的测试装置 [P]. 
许高斌 ;
黄庆安 .
中国专利 :CN1445535A ,2003-10-01
[7]
一种基于拉曼散射的应力作用下薄膜材料热导率的测量方法 [P]. 
毕可东 ;
赵伟玮 ;
陈伟宇 ;
倪振华 ;
陈云飞 .
中国专利 :CN103776814A ,2014-05-07
[8]
基于拉曼光谱的涂层损伤演化分析方法 [P]. 
齐建涛 ;
刘永豪 ;
卞贵学 ;
朱永强 ;
王寒冰 ;
安洋 ;
杨玉龙 ;
张馨怡 .
中国专利 :CN119985434A ,2025-05-13
[9]
基于拉曼光谱的涂层损伤演化分析方法 [P]. 
齐建涛 ;
刘永豪 ;
卞贵学 ;
朱永强 ;
王寒冰 ;
安洋 ;
杨玉龙 ;
张馨怡 .
中国专利 :CN119985434B ,2025-11-28
[10]
基于拉曼光谱的颗粒检测分析系统及方法 [P]. 
罗先刚 ;
张涛 ;
高平 ;
岳伟生 ;
蒲明博 ;
李雄 .
中国专利 :CN114152547A ,2022-03-08