一种光学微位移测量系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201821057143.6

申请日：

2018-07-04

公开(公告)号：

CN209101998U

公开(公告)日：

2019-07-12

发明(设计)人：

杨士中王韬杨士德

申请人：

申请人地址：

400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号

IPC主分类号：

G01B1102

IPC分类号：

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-07-12	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学微位移测量系统 [P].

杨士中 ;

王韬 ;

杨士德 .

中国专利 :CN109458934A ,2019-03-12

[2]

一种微位移测量系统 [P].

朱兴龙 ;

孙宇婕 ;

倪厚强 ;

任皓 ;

路恩会 .

中国专利 :CN221924974U ,2024-10-29

[3]

一种微位移测量系统 [P].

张秀再 ;

朱熙铖 ;

赵益波 ;

乔治 .

中国专利 :CN205940463U ,2017-02-08

[4]

一种微位移测量系统 [P].

朱兴龙 ;

罗珺瑶 ;

朱子洵 ;

高征兵 ;

宣胜 ;

张志高 ;

尹兵 ;

王建堂 ;

刘永智 .

中国专利 :CN107907053A ,2018-04-13

[5]

一种全光纤频域干涉纳米微位移测量系统 [P].

翁继东 ;

陶天炯 ;

王翔 ;

刘盛刚 ;

陈宏 ;

刘仓理 ;

谭华 ;

李剑峰 ;

蔡灵仓 ;

王为 ;

叶素华 ;

李加波 ;

傅秋卫 ;

汪小松 ;

贾路峰 .

中国专利 :CN102645168A ,2012-08-22

[6]

远距离微位移测量系统 [P].

杨士中 .

中国专利 :CN103245315B ,2013-08-14

[7]

一种用于微力微位移测量系统的集成探测器 [P].

李玉和 ;

胡小根 .

中国专利 :CN101957246B ,2011-01-26

[8]

一种光学位移测量系统 [P].

马军 ;

钟美鹏 ;

钭忠尚 ;

姚方周 ;

陈斌杰 ;

周余庆 .

中国专利 :CN118031809A ,2024-05-14

[9]

一种光学位移测量系统 [P].

徐飞鸿 .

中国专利 :CN106595495A ,2017-04-26

[10]

一种光学位移测量系统 [P].

伍剑 ;

袁波 .

中国专利 :CN203687880U ,2014-07-02

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