辐射杂散测试设备和系统、辐射杂散测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911173128.7

申请日：

2019-11-26

公开(公告)号：

CN111010242B

公开(公告)日：

2020-04-14

发明(设计)人：

魏延全吴学文齐昊廖建明邓建坤罗彪彭静

申请人：

申请人地址：

518051 广东省深圳市南山区沙河街道沙河西路3011号白沙物流公司仓库之二一楼B区

IPC主分类号：

H04B1710

IPC分类号：

H04B1720

代理机构：

南京灿烂知识产权代理有限公司 32356

代理人：

朱经艳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-14	公开	公开
2022-03-11	授权	授权
2022-02-22	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):H04B 17/10 变更事项:申请人变更前:深圳市巴伦技术股份有限公司变更后:深圳市钛和巴伦技术股份有限公司变更事项:地址变更前:518051 广东省深圳市南山区沙河街道沙河西路3011号白沙物流公司仓库之二一楼B区变更后:518051 广东省深圳市南山区沙河街道沙河西路3011号白沙物流公司仓库之二一楼B区
2020-05-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04B 17/10 申请日:20191126

共 50 条

[1]

辐射杂散测试系统及测试方法 [P].

贾焕宇 .

中国专利 :CN113721083B ,2024-02-23

[2]

辐射杂散测试系统及测试方法 [P].

贾焕宇 .

中国专利 :CN113721083A ,2021-11-30

[3]

辐射杂散测试方法及装置、测试系统 [P].

周意保 .

中国专利 :CN110601773B ,2019-12-20

[4]

辐射杂散辅助测试电路 [P].

王晓冬 ;

沙坚 .

中国专利 :CN105472082A ,2016-04-06

[5]

辐射杂散测试设备、测试方法、计算机设备及存储介质 [P].

伍震 ;

刘学 .

中国专利 :CN113608035A ,2021-11-05

[6]

极限温度下辐射杂散测试装置 [P].

张卫民 ;

魏延全 ;

廖建明 ;

涂浪 ;

叶鸿基 ;

蔡苗苗 .

中国专利 :CN118376847A ,2024-07-23

[7]

多天线辐射杂散测试系统 [P].

杨红波 ;

陈俊飞 ;

熊麟彪 ;

杨邦 ;

廖斌 .

中国专利 :CN115037389A ,2022-09-09

[8]

多天线辐射杂散测试系统 [P].

杨红波 ;

陈俊飞 ;

熊麟彪 ;

杨邦 ;

廖斌 .

中国专利 :CN115037389B ,2024-01-26

[9]

一种辐射杂散测试系统和方法 [P].

杨红波 ;

刘垒 ;

陈俊飞 ;

熊麟彪 ;

廖斌 .

中国专利 :CN118740291A ,2024-10-01

[10]

辐射杂散测试方法、装置、存储介质及测试系统 [P].

熊先平 .

中国专利 :CN108512613B ,2018-09-07

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