辐射杂散测试设备、测试方法、计算机设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110656389.5

申请日：

2021-06-11

公开(公告)号：

CN113608035A

公开(公告)日：

2021-11-05

发明(设计)人：

伍震刘学

申请人：

申请人地址：

523860 广东省东莞市长安镇乌沙海滨路18号

IPC主分类号：

G01R2910

IPC分类号：

G01R23167 H04M124

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

肖茹芸

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-05	公开	公开
2021-11-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 29/10 申请日:20210611

共 50 条

[1]

辐射杂散测试设备和系统、辐射杂散测试方法 [P].

魏延全 ;

吴学文 ;

齐昊 ;

廖建明 ;

邓建坤 ;

罗彪 ;

彭静 .

中国专利 :CN111010242B ,2020-04-14

[2]

杂散干扰程度测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

杨园园 ;

张天瑜 ;

许宁 .

中国专利 :CN108718222B ,2018-10-30

[3]

测试设备、测试方法、计算机设备和计算机可读存储介质 [P].

吴承明 ;

朱阿男 ;

毛孝飞 ;

丁明华 .

中国专利 :CN108490338A ,2018-09-04

[4]

电缆信号测试方法、计算机设备、测试设备及存储介质 [P].

许东 .

中国专利 :CN117452089A ,2024-01-26

[5]

设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

王志鹏 ;

郑昆 ;

谢晨浩 ;

丁胜 ;

何朝辉 ;

叶嘉俊 .

中国专利 :CN117516969A ,2024-02-06

[6]

设备测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

王志鹏 ;

郑昆 ;

谢晨浩 ;

丁胜 ;

何朝辉 ;

叶嘉俊 .

中国专利 :CN117516969B ,2024-07-19

[7]

射频测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

熊建才 .

中国专利 :CN113726454A ,2021-11-30

[8]

设备测试方法、装置、存储介质及计算机设备 [P].

陈广涛 ;

王文熹 ;

李涛 .

中国专利 :CN116860630B ,2024-09-20

[9]

存储设备测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

亓国强 ;

张在理 ;

夏方健 .

中国专利 :CN119943127A ,2025-05-06

[10]

存储设备测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

亓国强 ;

张在理 ;

夏方健 .

中国专利 :CN119943127B ,2025-09-30

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