量测系统及其量测参数设置方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910219439.6

申请日：

2019-03-21

公开(公告)号：

CN109903708A

公开(公告)日：

2019-06-18

发明(设计)人：

孙晓辉

申请人：

申请人地址：

518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号

IPC主分类号：

G09G300

IPC分类号：

代理机构：

深圳市德力知识产权代理事务所 44265

代理人：

林才桂;鞠骁

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-06-18	公开	公开
2019-07-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G09G 3/00 申请日:20190321
2021-02-26	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G09G 3/00 变更事项:申请人变更前:深圳市华星光电技术有限公司变更后:TCL华星光电技术有限公司变更事项:地址变更前:518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号变更后:518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号

共 50 条

[1]

光学量测系统、光学量测装置及其量测方法 [P].

吴世傑 ;

林典瑩 ;

林辰泰 ;

庄世昌 .

中国专利 :CN109282750B ,2019-01-29

[2]

量测卡、量测系统及量测方法 [P].

张育维 ;

杨茆世芳 ;

马天彦 .

中国专利 :CN117804330A ,2024-04-02

[3]

取样量测系统及其取样量测方法 [P].

陈彧 .

中国专利 :CN106952842A ,2017-07-14

[4]

量测系统、量测方法及其计量量测装置 [P].

刘颖昌 ;

戴君如 .

中国专利 :CN102401880A ,2012-04-04

[5]

量测系统与量测方法 [P].

张钰林 ;

童凯炀 ;

林茂青 .

中国专利 :CN107966625A ,2018-04-27

[6]

脉脊点量测系统及其量测方法 [P].

吴贤财 ;

何金山 ;

黄义智 .

中国专利 :CN1927112A ,2007-03-14

[7]

薄膜厚度的量测方法及其量测系统 [P].

张航 ;

庄源 .

中国专利 :CN119890065A ,2025-04-25

[8]

量测方法以及虚拟量测系统 [P].

张永政 ;

傅学士 ;

王英郎 ;

郑芳田 .

中国专利 :CN101067742A ,2007-11-07

[9]

量测手套及量测系统 [P].

张家齐 ;

萧子健 .

中国专利 :CN105455788A ,2016-04-06

[10]

气体吸收光谱量测系统及其量测方法 [P].

谢瑞豪 ;

陈柏凯 ;

宋隆佑 .

中国专利 :CN112924414A ,2021-06-08

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