晶圆测试卡及晶圆测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910973753.3
申请日
2019-10-14
公开(公告)号
CN110673016A
公开(公告)日
2020-01-10
发明(设计)人
余兴 蒋维楠
申请人
申请人地址
314400 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区隆兴路118号内主办公楼2129室
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
徐文欣
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
晶圆测试卡及晶圆测试系统 [P]. 
刘宏志 .
中国专利 :CN213181879U ,2021-05-11
[2]
晶圆测试电路单元及方法、晶圆测试电路、晶圆 [P]. 
李新 .
中国专利 :CN112216679A ,2021-01-12
[3]
晶圆测试电路单元及方法、晶圆测试电路、晶圆 [P]. 
李新 .
中国专利 :CN112216679B ,2025-02-07
[4]
晶圆测试电路单元及晶圆测试电路、晶圆 [P]. 
李新 .
中国专利 :CN209822634U ,2019-12-20
[5]
晶圆测试盒、晶圆测试系统及晶圆测试方法 [P]. 
刘俊良 ;
陈和也 .
中国专利 :CN119644097A ,2025-03-18
[6]
晶圆测试系统及晶圆测试方法 [P]. 
王善屹 .
中国专利 :CN102928761B ,2013-02-13
[7]
晶圆测试系统及晶圆测试方法 [P]. 
朱本强 .
中国专利 :CN112213621B ,2021-01-12
[8]
探针卡和晶圆测试系统及晶圆测试方法 [P]. 
吴元春 ;
许长春 ;
沈倪 .
中国专利 :CN106935524A ,2017-07-07
[9]
晶圆测试方法及晶圆测试装置 [P]. 
刘昌江 ;
周杰 ;
田茂 ;
谢家红 .
中国专利 :CN110164789A ,2019-08-23
[10]
探针卡及晶圆测试装置和晶圆测试方法 [P]. 
朱本强 .
中国专利 :CN110907799B ,2020-03-24