学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
晶圆测试卡及晶圆测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910973753.3
申请日
:
2019-10-14
公开(公告)号
:
CN110673016A
公开(公告)日
:
2020-01-10
发明(设计)人
:
余兴
蒋维楠
申请人
:
申请人地址
:
314400 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区隆兴路118号内主办公楼2129室
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
:
徐文欣
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-02-11
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20191014
2020-01-10
公开
公开
共 50 条
[1]
晶圆测试卡及晶圆测试系统
[P].
刘宏志
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘宏志
.
中国专利
:CN213181879U
,2021-05-11
[2]
晶圆测试电路单元及方法、晶圆测试电路、晶圆
[P].
李新
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李新
.
中国专利
:CN112216679A
,2021-01-12
[3]
晶圆测试电路单元及方法、晶圆测试电路、晶圆
[P].
李新
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
李新
.
中国专利
:CN112216679B
,2025-02-07
[4]
晶圆测试电路单元及晶圆测试电路、晶圆
[P].
李新
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李新
.
中国专利
:CN209822634U
,2019-12-20
[5]
晶圆测试盒、晶圆测试系统及晶圆测试方法
[P].
刘俊良
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
刘俊良
;
陈和也
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
陈和也
.
中国专利
:CN119644097A
,2025-03-18
[6]
晶圆测试系统及晶圆测试方法
[P].
王善屹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王善屹
.
中国专利
:CN102928761B
,2013-02-13
[7]
晶圆测试系统及晶圆测试方法
[P].
朱本强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱本强
.
中国专利
:CN112213621B
,2021-01-12
[8]
探针卡和晶圆测试系统及晶圆测试方法
[P].
吴元春
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴元春
;
许长春
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
许长春
;
沈倪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
沈倪
.
中国专利
:CN106935524A
,2017-07-07
[9]
晶圆测试方法及晶圆测试装置
[P].
刘昌江
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘昌江
;
周杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周杰
;
田茂
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
田茂
;
谢家红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢家红
.
中国专利
:CN110164789A
,2019-08-23
[10]
探针卡及晶圆测试装置和晶圆测试方法
[P].
朱本强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱本强
.
中国专利
:CN110907799B
,2020-03-24
←
1
2
3
4
5
→