一种射频测试方法及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201611248847.7
申请日
2016-12-29
公开(公告)号
CN108256363A
公开(公告)日
2018-07-06
发明(设计)人
刘须华 邓召基 胡博 张毅
申请人
申请人地址
100083 北京市海淀区学院路29号
IPC主分类号
G06K700
IPC分类号
代理机构
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291
代理人
刘松
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
射频测试电路、射频测试系统及射频测试方法 [P]. 
阳东 ;
黄渊球 ;
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[2]
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郝国忠 ;
夏光平 ;
朱光华 ;
陈海燕 ;
张国义 ;
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[3]
一种直放站射频性能测试方法、装置、系统及设备 [P]. 
金舰 ;
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廉长亮 ;
郝瑀琳 ;
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于天琦 ;
王旭 ;
马治国 ;
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张翔 .
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[4]
射频测试系统及射频测试方法 [P]. 
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[5]
一种射频测试结构及射频测试方法 [P]. 
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[6]
一种射频测试头及射频测试仪 [P]. 
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[7]
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唐锡辉 ;
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[8]
射频测试装置及射频测试方法 [P]. 
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魏云峰 ;
丁永胜 ;
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[9]
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廖达富 ;
杨元 ;
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[10]
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