SPARC处理器单粒子效应检测装置与检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710176529.9

申请日：

2007-10-30

公开(公告)号：

CN101145118A

公开(公告)日：

2008-03-19

发明(设计)人：

范隆于立新刘立全贾樑祝长民

申请人：

申请人地址：

100076北京市丰台区东高地四营门北路2号

IPC主分类号：

G06F1100

IPC分类号：

G01R3100 G01R31317

代理机构：

中国航天科技专利中心

代理人：

安丽

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06F 11/00 申请日:20071030 授权公告日:20090520 终止日期:20191030
2008-03-19	公开	公开
2008-05-14	实质审查的生效	实质审查的生效
2009-05-20	授权	授权

共 50 条

[1]

图像传感器的单粒子效应检测装置 [P].

陈莉明 ;

董攀 ;

陈茂鑫 ;

李想 ;

郭立业 ;

范隆 ;

岳素格 ;

郑宏超 ;

杜守刚 ;

马建华 ;

王煌伟 ;

文圣泉 ;

毕潇 ;

于春青 .

中国专利 :CN103675546A ,2014-03-26

[2]

单粒子效应检测方法和系统 [P].

张战刚 ;

雷志锋 ;

岳龙 ;

恩云飞 .

中国专利 :CN104934072B ,2015-09-23

[3]

一种基于FPGA的龙芯处理器单粒子效应检测系统和方法 [P].

张宇鑫 .

中国专利 :CN121164986A ,2025-12-19

[4]

基于SPARC处理器单粒子翻转故障注入的测试方法及系统 [P].

李鹏宇 ;

江云松 ;

黄晨 ;

朱体洲 ;

房振军 ;

郭华 ;

于倩 ;

董燕 ;

刘露咪 ;

郑小萌 .

中国专利 :CN108710551A ,2018-10-26

[5]

处理器的检测方法、检测装置以及检测系统 [P].

刘雷波 ;

罗奥 ;

魏少军 .

中国专利 :CN108345797B ,2018-07-31

[6]

一种Flash存储器单粒子效应检测方法 [P].

黄姣英 ;

王乐群 ;

高成 ;

王自力 .

中国专利 :CN113012749A ,2021-06-22

[7]

用于CMOS图像传感器单粒子效应检测的设备及检测方法 [P].

汪波 ;

刘伟鑫 ;

李珍 ;

孔泽斌 ;

徐导进 .

中国专利 :CN108181521A ,2018-06-19

[8]

一种处理器检测方法、处理器检测装置以及计算机设备 [P].

孙昊 ;

赵帅 ;

范会杨 ;

亓浩 ;

肖占慧 ;

姜洪正 .

中国专利 :CN109002377A ,2018-12-14

[9]

集成电路单粒子效应检测装置和系统 [P].

陈辉 ;

王晓晗 ;

雷志锋 ;

师谦 ;

肖庆中 .

中国专利 :CN103809109A ,2014-05-21

[10]

检测方法、检测装置、存储介质和处理器 [P].

戚务昌 ;

孙晓锋 ;

张凯 ;

姜利 .

中国专利 :CN109559423A ,2019-04-02

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