半导体集成电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN01822602.7

申请日：

2001-12-25

公开(公告)号：

CN1489846A

公开(公告)日：

2004-04-14

发明(设计)人：

冈村淳一

申请人：

申请人地址：

日本国东京都

IPC主分类号：

H04L704

IPC分类号：

H04L702 H04L2508

代理机构：

北京北新智诚知识产权代理有限公司

代理人：

张卫华

法律状态：

专利权的终止(未缴年费专利权终止)

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-02-24	专利权的终止(未缴年费专利权终止)	专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2006-11-15	授权	授权
2004-04-14	公开	公开
2004-06-23	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

半导体集成电路 [P].

富田浩由 .

中国专利 :CN100340942C ,2006-04-05

[2]

半导体集成电路 [P].

阪田义男 ;

德野芳雄 ;

田村纯一 ;

上原由美子 .

中国专利 :CN1213799A ,1999-04-14

[3]

半导体集成电路 [P].

村田豊 ;

上野晃 .

中国专利 :CN112514256A ,2021-03-16

[4]

半导体集成电路 [P].

村田豊 ;

上野晃 .

日本专利 :CN112514256B ,2025-03-21

[5]

半导体集成电路 [P].

小日向淳 .

中国专利 :CN1578148A ,2005-02-09

[6]

半导体集成电路以及液晶显示驱动用半导体集成电路 [P].

纳富志信 .

中国专利 :CN1866348B ,2006-11-22

[7]

半导体集成电路及控制半导体集成电路的方法 [P].

川口雄野 ;

熊野一夫 .

中国专利 :CN109690952A ,2019-04-26

[8]

半导体集成电路和用于半导体集成电路的测试方法 [P].

前原仁一 .

中国专利 :CN101923897A ,2010-12-22

[9]

半导体集成电路是否合格判定方法及半导体集成电路 [P].

赤松宏 .

中国专利 :CN1180930A ,1998-05-06

[10]

半导体器件和半导体集成电路 [P].

佐圆真 ;

长田健一 ;

小松成亘 ;

野野村到 ;

岛崎靖久 .

中国专利 :CN101546758B ,2009-09-30

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