应变测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910188746.9

申请日：

2009-12-04

公开(公告)号：

CN102087101A

公开(公告)日：

2011-06-08

发明(设计)人：

陈鲁倬刘长洪王佳平范守善

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区清华园1号清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室

IPC主分类号：

G01B1116

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-07-18	授权	授权
2011-07-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101089140646 IPC(主分类):G01B 11/16 专利申请号:2009101887469 申请日:20091204
2011-06-08	公开	公开

共 50 条

[1]

应变测量装置与应变测量方法 [P].

钱小辉 ;

马骁妍 ;

衡月昆 ;

杨晓宇 ;

黄开席 ;

何伟 ;

裴亚田 .

中国专利 :CN110017787A ,2019-07-16

[2]

应变测量方法 [P].

钱小辉 ;

马骁妍 ;

衡月昆 ;

杨晓宇 ;

黄开席 ;

何伟 ;

裴亚田 .

中国专利 :CN110017787B ,2024-07-09

[3]

应变分布测量系统及应变分布测量方法 [P].

永岛知贵 ;

岩永幸満 ;

平山纪夫 .

中国专利 :CN113702174A ,2021-11-26

[4]

一种光纤光栅应变测量装置及测量方法 [P].

李涛 ;

林杰俊 ;

蒋卫杰 ;

戚培芸 ;

陆国明 ;

吉鸿磊 ;

郭峰 .

中国专利 :CN117664013A ,2024-03-08

[5]

应变值测量方法、OFDR应变测量方法 [P].

甘雨 ;

程焕然 ;

刘国栋 ;

卢炳辉 .

中国专利 :CN116952150B ,2025-02-25

[6]

用于测量机械应变的应变测量装置及方法 [P].

沙赫鲁兹·阿米尼 ;

皮特·弗拉茨尔 .

德国专利 :CN119137458A ,2024-12-13

[7]

应变变化测量装置和应变变化测量方法 [P].

胁坂佳史 ;

大野槙悟 ;

饭田大辅 ;

押田博之 .

日本专利 :CN115702319B ,2025-10-28

[8]

应变变化测量装置和应变变化测量方法 [P].

胁坂佳史 ;

大野槙悟 ;

饭田大辅 ;

押田博之 .

中国专利 :CN115702319A ,2023-02-14

[9]

测量装置及测量方法 [P].

新妻祐希 ;

上沢贵秋 ;

樱井胜夫 ;

福田一成 ;

佐野朋哉 .

中国专利 :CN114793139A ,2022-07-26

[10]

测量装置及测量方法 [P].

富泽亮太 ;

足立佳久 ;

岩井敬文 ;

江户勇树 ;

小川莉绘子 .

中国专利 :CN114302674A ,2022-04-08

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