应变分布测量系统及应变分布测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110471822.8

申请日：

2021-04-29

公开(公告)号：

CN113702174A

公开(公告)日：

2021-11-26

发明(设计)人：

永岛知贵岩永幸満平山纪夫

申请人：

申请人地址：

日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地

IPC主分类号：

G01N308

IPC分类号：

G01B1116

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

薛恒;徐川

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 3/08 申请日:20210429
2021-11-26	公开	公开

共 50 条

[1]

应变测量装置与应变测量方法 [P].

钱小辉 ;

马骁妍 ;

衡月昆 ;

杨晓宇 ;

黄开席 ;

何伟 ;

裴亚田 .

中国专利 :CN110017787A ,2019-07-16

[2]

应变测量方法 [P].

钱小辉 ;

马骁妍 ;

衡月昆 ;

杨晓宇 ;

黄开席 ;

何伟 ;

裴亚田 .

中国专利 :CN110017787B ,2024-07-09

[3]

应变测量装置及测量方法 [P].

陈鲁倬 ;

刘长洪 ;

王佳平 ;

范守善 .

中国专利 :CN102087101A ,2011-06-08

[4]

应变值测量方法、OFDR应变测量方法 [P].

甘雨 ;

程焕然 ;

刘国栋 ;

卢炳辉 .

中国专利 :CN116952150B ,2025-02-25

[5]

一种分布式应变测量装置、测量方法及检测方法 [P].

刘姜楠 ;

于景娴 ;

付振东 ;

张远祥 ;

丁麒森 ;

苏宛然 .

中国专利 :CN120926901A ,2025-11-11

[6]

分布距离测量仪、分布距离测量方法及分布距离测量系统 [P].

波田野利昭 .

日本专利 :CN120129842A ,2025-06-10

[7]

相位分布测量装置及相位分布测量方法 [P].

丰田晴义 ;

向坂直久 ;

宅见宗则 .

中国专利 :CN1703613A ,2005-11-30

[8]

粒径分布测量装置及粒径分布测量方法 [P].

栩野成视 ;

澤弘义 .

中国专利 :CN103257096A ,2013-08-21

[9]

粒径分布测量装置及粒径分布测量方法 [P].

山口哲司 ;

森哲也 ;

名仓诚 .

日本专利 :CN114729866B ,2025-11-18

[10]

粒径分布测量装置及粒径分布测量方法 [P].

山口哲司 ;

森哲也 ;

名仓诚 .

中国专利 :CN114729866A ,2022-07-08

← 1 2 3 4 5 →