相位分布测量装置及相位分布测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200380100858.5

申请日：

2003-10-03

公开(公告)号：

CN1703613A

公开(公告)日：

2005-11-30

发明(设计)人：

丰田晴义向坂直久宅见宗则

申请人：

申请人地址：

日本静冈县

IPC主分类号：

G01J900

IPC分类号：

G01B1100 G01B1128

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司

代理人：

龙淳

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-07-15	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回
2006-01-18	实质审查的生效	实质审查的生效
2005-11-30	公开	公开

共 50 条

[1]

等离子体相位分布的测量方法、测量装置 [P].

李欣焱 ;

袁鹏 ;

郑坚 .

中国专利 :CN116997067B ,2024-01-05

[2]

厚度分布测量装置及厚度分布测量方法 [P].

土屋邦彦 ;

松本彻 ;

高哲也 ;

大冢贤一 .

日本专利 :CN119156517A ,2024-12-17

[3]

粒径分布测量装置及粒径分布测量方法 [P].

栩野成视 ;

澤弘义 .

中国专利 :CN103257096A ,2013-08-21

[4]

粒径分布测量装置及粒径分布测量方法 [P].

山口哲司 ;

森哲也 ;

名仓诚 .

日本专利 :CN114729866B ,2025-11-18

[5]

粒径分布测量装置及粒径分布测量方法 [P].

山口哲司 ;

森哲也 ;

名仓诚 .

中国专利 :CN114729866A ,2022-07-08

[6]

相位延迟的测量装置及测量方法 [P].

陈志忠 ;

王伯萍 .

中国专利 :CN1808090A ,2006-07-26

[7]

液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量方法及相关装置 [P].

任立勇 ;

魏尚恒 ;

王佩瑶 .

中国专利 :CN120761002A ,2025-10-10

[8]

应变分布测量系统及应变分布测量方法 [P].

永岛知贵 ;

岩永幸満 ;

平山纪夫 .

中国专利 :CN113702174A ,2021-11-26

[9]

光束相位在线测量装置和测量方法 [P].

潘兴臣 ;

王海燕 ;

程君 ;

刘诚 ;

朱健强 .

中国专利 :CN103884436B ,2014-06-25

[10]

相位延迟值的测量装置及测量方法 [P].

陈志忠 ;

王伯萍 .

中国专利 :CN1904673A ,2007-01-31

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