一种基于表面等离子体共振的光学显微镜

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510988310.3

申请日：

2015-12-24

公开(公告)号：

CN105628655A

公开(公告)日：

2016-06-01

发明(设计)人：

王毅胡永奇张庆文

申请人：

申请人地址：

325000 浙江省温州市龙湾区（高新区）新三路16号高新大厦1510室

IPC主分类号：

G01N21552

IPC分类号：

代理机构：

温州瓯越专利代理有限公司 33211

代理人：

陈加利

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-06-01	公开	公开
2019-05-07	授权	授权
2016-06-29	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101667886816 IPC(主分类):G01N 21/552 专利申请号:2015109883103 申请日:20151224

共 50 条

[1]

基于表面等离子体共振的数字全息显微成像方法及显微镜 [P].

钟金钢 ;

胡翠英 .

中国专利 :CN101727059A ,2010-06-09

[2]

高分辨率表面等离子体显微镜 [P].

张蓓 ;

张承乾 ;

王秋生 ;

闫鹏 ;

胡庆雷 .

中国专利 :CN107479177B ,2017-12-15

[3]

一种表面等离子体纵向场扫描近场光学显微镜装置 [P].

袁小聪 ;

杜路平 ;

沈军峰 ;

朱思伟 ;

闵长俊 ;

方晖 .

中国专利 :CN203164205U ,2013-08-28

[4]

相移干涉表面等离子体波显微镜 [P].

郭继华 ;

郭峻 ;

王东生 ;

隋森芳 .

中国专利 :CN1342897A ,2002-04-03

[5]

动态可逆调控表面等离子体共振性质的方法 [P].

姜江 ;

杨钟贞 ;

邹彧 .

中国专利 :CN107297511B ,2017-10-27

[6]

一种用于表面等离子体共振芯片压接的装置 [P].

李伟 ;

王金海 ;

李洪增 .

中国专利 :CN217466670U ,2022-09-20

[7]

基于表面等离子体共振全息显微术的金层厚度测量方法 [P].

戴思清 ;

徐浩宇 ;

王竹青 ;

赵建林 .

中国专利 :CN119554976A ,2025-03-04

[8]

基于表面等离子体共振全息显微术的金层厚度测量方法 [P].

戴思清 ;

徐浩宇 ;

王竹青 ;

赵建林 .

中国专利 :CN119554976B ,2025-04-18

[9]

一种表面等离子体共振耦合光学元件 [P].

许吉英 ;

陈义 .

中国专利 :CN103728280B ,2014-04-16

[10]

基于表面等离子体共振的手机生化成像装置 [P].

王毅 ;

张庆文 .

中国专利 :CN108489940A ,2018-09-04

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