基于表面等离子体共振全息显微术的金层厚度测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510125824.X
申请日
2025-01-27
公开(公告)号
CN119554976A
公开(公告)日
2025-03-04
发明(设计)人
戴思清 徐浩宇 王竹青 赵建林
申请人
西北工业大学
申请人地址
710072 陕西省西安市碑林区友谊西路127号
IPC主分类号
G01B11/06
IPC分类号
代理机构
西安科意达知识产权代理事务所(普通合伙) 61340
代理人
周丽琪
法律状态
授权
国省代码
陕西省 西安市
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共 50 条
[1]
基于表面等离子体共振全息显微术的金层厚度测量方法 [P]. 
戴思清 ;
徐浩宇 ;
王竹青 ;
赵建林 .
中国专利 :CN119554976B ,2025-04-18
[2]
一种改善表面等离子体共振全息显微术像质的方法 [P]. 
赵建林 ;
豆嘉真 ;
张继巍 ;
邸江磊 .
中国专利 :CN114544552B ,2024-04-30
[3]
一种改善表面等离子体共振全息显微术像质的方法 [P]. 
赵建林 ;
豆嘉真 ;
张继巍 ;
邸江磊 .
中国专利 :CN114544552A ,2022-05-27
[4]
一种基于表面等离子体共振技术的磁场测量方法 [P]. 
赵勇 ;
英宇 .
中国专利 :CN104991206A ,2015-10-21
[5]
一种多向激发表面等离子体共振全息显微术的降采样方法 [P]. 
赵建林 ;
米婧宇 ;
张继巍 ;
任振波 .
中国专利 :CN118799173A ,2024-10-18
[6]
动态可逆调控表面等离子体共振性质的方法 [P]. 
姜江 ;
杨钟贞 ;
邹彧 .
中国专利 :CN107297511B ,2017-10-27
[7]
基于表面等离子体共振的数字全息显微成像方法及显微镜 [P]. 
钟金钢 ;
胡翠英 .
中国专利 :CN101727059A ,2010-06-09
[8]
基于表面等离子体共振的测量装置 [P]. 
刘学静 ;
梁杰豪 ;
李雨函 ;
李阳 ;
范永涛 .
中国专利 :CN118190882A ,2024-06-14
[9]
一种基于表面等离子体共振的光学显微镜 [P]. 
王毅 ;
胡永奇 ;
张庆文 .
中国专利 :CN105628655A ,2016-06-01
[10]
可重复响应的表面等离子体共振检测样品池 [P]. 
鲍军波 ;
王菊英 ;
陈宇春 .
中国专利 :CN1603793A ,2005-04-06