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具有电磁故障注入保护的集成电路

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202011188760.1
申请日：
2020-10-30
公开(公告)号：
CN112818422A
公开(公告)日：
2021-05-18
发明(设计)人：
J·L·松他格 T·T·吕格尔
申请人：
申请人地址：
美国得克萨斯州
IPC主分类号：
G06F2187
IPC分类号：
代理机构：
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人：
侯颖媖;张鑫
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-06-04 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 21/87 申请日:20201030
2021-05-18 公开 公开
共 50 条
[1]
具有电磁故障注入保护的集成电路 [P]. 
J·L·松他格 ;
T·T·吕格尔 .
美国专利 :CN112818422B ,2024-08-16
[2]
集成电路中的故障注入攻击检测 [P]. 
苏巴亚·乔得利·亚纳马达拉 ;
米卡尔·伊夫·玛丽·瑞恩 ;
阿尼什·达纳库拉 ;
罗马·鲁德拉 .
英国专利 :CN112204728B ,2024-08-13
[3]
集成电路中的故障注入攻击检测 [P]. 
苏巴亚·乔得利·亚纳马达拉 ;
米卡尔·伊夫·玛丽·瑞恩 ;
阿尼什·达纳库拉 ;
罗马·鲁德拉 .
中国专利 :CN112204728A ,2021-01-08
[4]
用于集成电路的电磁故障注入探测方法及相应的集成电路 [P]. 
张英辉 ;
张行健 .
中国专利 :CN111239582A ,2020-06-05
[5]
集成电路芯片故障注入系统及其方法 [P]. 
鲍全洋 ;
郝明明 .
中国专利 :CN115685454A ,2023-02-03
[6]
用于集成电路的防止故障注入控制信号的方法及集成电路 [P]. 
张英辉 ;
张行健 .
中国专利 :CN111241780A ,2020-06-05
[7]
具有电磁干扰电源保护的集成电路 [P]. 
王晓艳 .
中国专利 :CN1571158A ,2005-01-26
[8]
基于部分扫描的集成电路故障注入攻击模拟方法 [P]. 
李博超 ;
刘强 .
中国专利 :CN109581206B ,2019-04-05
[9]
用于检测集成电路中的故障注入攻击的电路和方法 [P]. 
尼基塔·韦希科夫 .
:CN117610090A ,2024-02-27
[10]
故障注入仿真电路 [P]. 
宋吟蔚 ;
王永庭 ;
赵军 ;
张言方 .
中国专利 :CN202815176U ,2013-03-20
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