一种可调集成电路测试治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420666420.9

申请日：

2014-11-10

公开(公告)号：

CN204166014U

公开(公告)日：

2015-02-18

发明(设计)人：

周平

申请人：

申请人地址：

610000 四川省成都市成都市高新区高朋大道1号

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218

代理人：

袁英

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-02-18	授权	授权
2017-11-24	避免重复授权放弃专利权	避免重复授予专利权 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20141110 授权公告日:20150218 放弃生效日:20171124

共 50 条

[1]

一种可调集成电路测试治具 [P].

周平 .

中国专利 :CN105004888A ,2015-10-28

[2]

一种可调集成电路测试治具 [P].

夏徐林 ;

凌信 .

中国专利 :CN214174563U ,2021-09-10

[3]

一种可调集成电路测试治具 [P].

朱旭亮 .

中国专利 :CN211086380U ,2020-07-24

[4]

一种可调集成电路测试治具 [P].

李凤文 .

中国专利 :CN117890772A ,2024-04-16

[5]

一种可调集成电路测试治具 [P].

李凤文 .

中国专利 :CN117890772B ,2024-05-28

[6]

一种集成电路测试治具 [P].

李志丽 ;

徐广德 .

中国专利 :CN220305441U ,2024-01-05

[7]

一种集成电路测试治具 [P].

朱秀斌 .

中国专利 :CN114740333A ,2022-07-12

[8]

一种集成电路测试治具 [P].

高宗英 ;

田治峰 ;

贺涛 ;

高凯 ;

王强 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN203376446U ,2014-01-01

[9]

一种集成电路测试治具 [P].

孙玉龙 .

中国专利 :CN221612911U ,2024-08-27

[10]

一种集成电路测试治具 [P].

王晓龙 .

中国专利 :CN113655244A ,2021-11-16

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