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一种可调集成电路测试治具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201921923136.4
申请日
:
2019-11-08
公开(公告)号
:
CN211086380U
公开(公告)日
:
2020-07-24
发明(设计)人
:
朱旭亮
申请人
:
申请人地址
:
215300 江苏省苏州市昆山市玉山镇环庆路1881号3号房
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
G01R3128
代理机构
:
苏州言思嘉信专利代理事务所(普通合伙) 32385
代理人
:
徐永雷
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-07-24
授权
授权
共 50 条
[1]
一种可调集成电路测试治具
[P].
夏徐林
论文数:
0
引用数:
0
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0
夏徐林
;
凌信
论文数:
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引用数:
0
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0
凌信
.
中国专利
:CN214174563U
,2021-09-10
[2]
一种可调集成电路测试治具
[P].
周平
论文数:
0
引用数:
0
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0
周平
.
中国专利
:CN204166014U
,2015-02-18
[3]
一种可调集成电路测试治具
[P].
李凤文
论文数:
0
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0
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0
机构:
盐城市嘉鸿微电子有限公司
盐城市嘉鸿微电子有限公司
李凤文
.
中国专利
:CN117890772A
,2024-04-16
[4]
一种可调集成电路测试治具
[P].
周平
论文数:
0
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0
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0
周平
.
中国专利
:CN105004888A
,2015-10-28
[5]
一种可调集成电路测试治具
[P].
李凤文
论文数:
0
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0
h-index:
0
机构:
盐城市嘉鸿微电子有限公司
盐城市嘉鸿微电子有限公司
李凤文
.
中国专利
:CN117890772B
,2024-05-28
[6]
集成电路测试治具和集成电路测试装置
[P].
王国华
论文数:
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0
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0
王国华
;
谢伟
论文数:
0
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0
谢伟
.
中国专利
:CN205193228U
,2016-04-27
[7]
一种集成电路测试治具和集成电路测试装置
[P].
周学志
论文数:
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0
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周学志
;
谢清冬
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0
谢清冬
.
中国专利
:CN207067178U
,2018-03-02
[8]
一种集成电路测试治具
[P].
孙玉龙
论文数:
0
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0
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机构:
北京柴能仪器设备有限公司
北京柴能仪器设备有限公司
孙玉龙
.
中国专利
:CN221612911U
,2024-08-27
[9]
一种集成电路测试治具
[P].
李志丽
论文数:
0
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机构:
深圳市汉沣微电子有限公司
深圳市汉沣微电子有限公司
李志丽
;
徐广德
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机构:
深圳市汉沣微电子有限公司
深圳市汉沣微电子有限公司
徐广德
.
中国专利
:CN220305441U
,2024-01-05
[10]
一种集成电路测试治具
[P].
朱秀斌
论文数:
0
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朱秀斌
.
中国专利
:CN114740333A
,2022-07-12
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