一种可调集成电路测试治具

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201921923136.4
申请日
2019-11-08
公开(公告)号
CN211086380U
公开(公告)日
2020-07-24
发明(设计)人
朱旭亮
申请人
申请人地址
215300 江苏省苏州市昆山市玉山镇环庆路1881号3号房
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3128
代理机构
苏州言思嘉信专利代理事务所(普通合伙) 32385
代理人
徐永雷
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种可调集成电路测试治具 [P]. 
夏徐林 ;
凌信 .
中国专利 :CN214174563U ,2021-09-10
[2]
一种可调集成电路测试治具 [P]. 
周平 .
中国专利 :CN204166014U ,2015-02-18
[3]
一种可调集成电路测试治具 [P]. 
李凤文 .
中国专利 :CN117890772A ,2024-04-16
[4]
一种可调集成电路测试治具 [P]. 
周平 .
中国专利 :CN105004888A ,2015-10-28
[5]
一种可调集成电路测试治具 [P]. 
李凤文 .
中国专利 :CN117890772B ,2024-05-28
[6]
集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P]. 
王国华 ;
谢伟 .
中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27
[7]
一种集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P]. 
周学志 ;
谢清冬 .
中国专利 :CN207067178U ,2018-03-02
[8]
一种集成电路测试治具 [P]. 
孙玉龙 .
中国专利 :CN221612911U ,2024-08-27
[9]
一种集成电路测试治具 [P]. 
李志丽 ;
徐广德 .
中国专利 :CN220305441U ,2024-01-05
[10]
一种集成电路测试治具 [P]. 
朱秀斌 .
中国专利 :CN114740333A ,2022-07-12