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一种集成电路测试治具和集成电路测试装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201720426073.6
申请日：
2017-04-21
公开(公告)号：
CN207067178U
公开(公告)日：
2018-03-02
发明(设计)人：
周学志 谢清冬
申请人：
申请人地址：
341600 江西省赣州市信丰县工业园区城北大道
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
G01R3128
代理机构：
代理人：
法律状态：
专利权的终止
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-04-09 专利权的终止 未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20170421 授权公告日:20180302 终止日期:20200421
2018-03-02 授权 授权
共 50 条
[1]
集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P]. 
王国华 ;
谢伟 .
中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27
[2]
集成电路测试装置 [P]. 
段超毅 .
中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08
[3]
集成电路测试装置 [P]. 
陈尚立 ;
谢林庭 .
中国专利 :CN211905590U ,2020-11-10
[4]
集成电路测试装置 [P]. 
韩学森 ;
张志伟 ;
陈乃溪 ;
苏康宏 ;
沈飞飞 .
中国专利 :CN221826397U ,2024-10-11
[5]
集成电路测试装置 [P]. 
陈健 ;
陆人杰 .
中国专利 :CN217404469U ,2022-09-09
[6]
集成电路测试装置 [P]. 
张立国 .
中国专利 :CN205484691U ,2016-08-17
[7]
集成电路测试装置 [P]. 
段超毅 .
中国专利 :CN1916643A ,2007-02-21
[8]
通用集成电路测试装置 [P]. 
段超毅 ;
陈家锋 .
中国专利 :CN204439790U ,2015-07-01
[9]
集成电路测试座及集成电路测试装置 [P]. 
程振 ;
李志雄 ;
刘旭 ;
王平 ;
燕祖德 .
中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08
[10]
用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置 [P]. 
李远 ;
盖晓峰 .
中国专利 :CN222996768U ,2025-06-17
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