集成电路测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200510036732.7

申请日：

2005-08-17

公开(公告)号：

CN1916643A

公开(公告)日：

2007-02-21

发明(设计)人：

段超毅

申请人：

申请人地址：

518101广东省深圳市宝安区世外桃园二区二栋805

IPC主分类号：

G01R1073

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

深圳睿智专利事务所

代理人：

陈鸿荫

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-09-17	实质审查的生效	实质审查的生效
2012-03-21	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101303548108 IPC(主分类):G01R 1/073 专利申请号:2005100367327 公开日:20070221
2007-02-21	公开	公开

共 50 条

[1]

集成电路测试装置 [P].

段超毅 .

中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08

[2]

集成电路测试装置 [P].

陈尚立 ;

谢林庭 .

中国专利 :CN211905590U ,2020-11-10

[3]

集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27

[4]

通用集成电路测试装置 [P].

段超毅 ;

陈家锋 .

中国专利 :CN204439790U ,2015-07-01

[5]

集成电路测试装置 [P].

刘丰 ;

吕方艳 ;

梁晓梅 ;

刘应明 .

中国专利 :CN208795255U ,2019-04-26

[6]

集成电路测试装置 [P].

郭珊丞 .

中国专利 :CN107942229A ,2018-04-20

[7]

一种集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

周学志 ;

谢清冬 .

中国专利 :CN207067178U ,2018-03-02

[8]

集成电路精密测试装置 [P].

周迪 .

中国专利 :CN115542118A ,2022-12-30

[9]

一种集成电路测试装置 [P].

邹智鹏 .

中国专利 :CN213069085U ,2021-04-27

[10]

一种集成电路测试装置 [P].

李立 ;

黄镇生 .

中国专利 :CN201194023Y ,2009-02-11

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