集成电路测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711185328.5

申请日：

2017-11-23

公开(公告)号：

CN107942229A

公开(公告)日：

2018-04-20

发明(设计)人：

郭珊丞

申请人：

申请人地址：

621000 四川省绵阳市高新区绵兴东路35号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

四川省成都市天策商标专利事务所 51213

代理人：

袁辰亮

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-04-20	公开	公开
2018-05-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20171123
2021-05-28	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20180420

共 50 条

[1]

集成电路测试装置 [P].

段超毅 .

中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08

[2]

集成电路测试装置 [P].

陈尚立 ;

谢林庭 .

中国专利 :CN211905590U ,2020-11-10

[3]

集成电路测试装置 [P].

段超毅 .

中国专利 :CN1916643A ,2007-02-21

[4]

集成电路内部电容测试装置 [P].

蒋鹰 ;

董小东 ;

辜芳义 .

中国专利 :CN202057729U ,2011-11-30

[5]

集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27

[6]

集成电路的测试装置 [P].

谢朝辉 ;

赵明琦 ;

王德坤 ;

刘海南 ;

黑勇 ;

周玉梅 .

中国专利 :CN103064006B ,2013-04-24

[7]

通用集成电路测试装置 [P].

段超毅 ;

陈家锋 .

中国专利 :CN204439790U ,2015-07-01

[8]

集成电路精密测试装置 [P].

周迪 .

中国专利 :CN115542118A ,2022-12-30

[9]

用于测试集成电路封装的测试装置 [P].

邱绍袀 ;

廖文峰 ;

陈颢 ;

陈春兴 .

中国专利 :CN115561616A ,2023-01-03

[10]

集成电路测试装置 [P].

商亚锋 .

中国专利 :CN108008155A ,2018-05-08

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