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集成电路内部电容测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201120146887.7
申请日
:
2011-05-10
公开(公告)号
:
CN202057729U
公开(公告)日
:
2011-11-30
发明(设计)人
:
蒋鹰
董小东
辜芳义
申请人
:
申请人地址
:
215021 江苏省苏州市苏州工业园区二区沈浒路408号
IPC主分类号
:
G01R2726
IPC分类号
:
代理机构
:
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
:
田野
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-05-28
专利权的终止
专利权有效期届满 IPC(主分类):G01R 27/26 申请日:20110510 授权公告日:20111130
2011-11-30
授权
授权
共 50 条
[1]
集成电路测试装置
[P].
段超毅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
段超毅
.
中国专利
:CN2836018Y
,2006-11-08
[2]
集成电路测试装置
[P].
陈尚立
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈尚立
;
谢林庭
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢林庭
.
中国专利
:CN211905590U
,2020-11-10
[3]
集成电路测试装置
[P].
郭珊丞
论文数:
0
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0
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0
郭珊丞
.
中国专利
:CN107942229A
,2018-04-20
[4]
一种新型集成电路内部电容测试治具及电容测试装置
[P].
周学志
论文数:
0
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0
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0
周学志
;
谢清冬
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢清冬
.
中国专利
:CN206863062U
,2018-01-09
[5]
集成电路测试治具和集成电路测试装置
[P].
王国华
论文数:
0
引用数:
0
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0
王国华
;
谢伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢伟
.
中国专利
:CN205193228U
,2016-04-27
[6]
集成电路封装测试装置
[P].
李志军
论文数:
0
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0
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0
李志军
;
朱永斌
论文数:
0
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0
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0
朱永斌
;
邱嘉龙
论文数:
0
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0
邱嘉龙
;
何祖辉
论文数:
0
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0
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0
何祖辉
;
邱秀华
论文数:
0
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0
h-index:
0
邱秀华
.
中国专利
:CN212542356U
,2021-02-12
[7]
通用集成电路测试装置
[P].
段超毅
论文数:
0
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0
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0
段超毅
;
陈家锋
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈家锋
.
中国专利
:CN204439790U
,2015-07-01
[8]
集成电路芯片测试装置
[P].
赖榕弟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赖榕弟
.
中国专利
:CN212905288U
,2021-04-06
[9]
一种集成电路芯片内部电路节点测试装置
[P].
王雪莲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市超聚微电子科技有限公司
深圳市超聚微电子科技有限公司
王雪莲
.
中国专利
:CN113702805B
,2024-06-04
[10]
一种集成电路芯片内部电路节点测试装置
[P].
王雪莲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王雪莲
.
中国专利
:CN113702805A
,2021-11-26
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