集成电路内部电容测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201120146887.7
申请日
2011-05-10
公开(公告)号
CN202057729U
公开(公告)日
2011-11-30
发明(设计)人
蒋鹰 董小东 辜芳义
申请人
申请人地址
215021 江苏省苏州市苏州工业园区二区沈浒路408号
IPC主分类号
G01R2726
IPC分类号
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
田野
法律状态
专利权的终止
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
集成电路测试装置 [P]. 
段超毅 .
中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08
[2]
集成电路测试装置 [P]. 
陈尚立 ;
谢林庭 .
中国专利 :CN211905590U ,2020-11-10
[3]
集成电路测试装置 [P]. 
郭珊丞 .
中国专利 :CN107942229A ,2018-04-20
[4]
一种新型集成电路内部电容测试治具及电容测试装置 [P]. 
周学志 ;
谢清冬 .
中国专利 :CN206863062U ,2018-01-09
[5]
集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P]. 
王国华 ;
谢伟 .
中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27
[6]
集成电路封装测试装置 [P]. 
李志军 ;
朱永斌 ;
邱嘉龙 ;
何祖辉 ;
邱秀华 .
中国专利 :CN212542356U ,2021-02-12
[7]
通用集成电路测试装置 [P]. 
段超毅 ;
陈家锋 .
中国专利 :CN204439790U ,2015-07-01
[8]
集成电路芯片测试装置 [P]. 
赖榕弟 .
中国专利 :CN212905288U ,2021-04-06
[9]
一种集成电路芯片内部电路节点测试装置 [P]. 
王雪莲 .
中国专利 :CN113702805B ,2024-06-04
[10]
一种集成电路芯片内部电路节点测试装置 [P]. 
王雪莲 .
中国专利 :CN113702805A ,2021-11-26