集成电路封装测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202021222107.8
申请日
2020-06-28
公开(公告)号
CN212542356U
公开(公告)日
2021-02-12
发明(设计)人
李志军 朱永斌 邱嘉龙 何祖辉 邱秀华
申请人
申请人地址
312000 浙江省绍兴市越城区平江路328号6幢一层
IPC主分类号
H01L2166
IPC分类号
代理机构
北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) 11589
代理人
曹玉清
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
殷国海 .
中国专利 :CN221303489U ,2024-07-09
[2]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
孟晓南 .
中国专利 :CN218445814U ,2023-02-03
[3]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
陈烈辉 .
中国专利 :CN214672583U ,2021-11-09
[4]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
苏常 ;
张佳欢 .
中国专利 :CN220729889U ,2024-04-05
[5]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
高宏玲 ;
翟腾 ;
申武鑫 ;
贾庆 .
中国专利 :CN215986363U ,2022-03-08
[6]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
陈益群 ;
袁泉 ;
黄旭超 .
中国专利 :CN215496633U ,2022-01-11
[7]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
周文 ;
步新祥 ;
牛云峰 .
中国专利 :CN217112615U ,2022-08-02
[8]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
袁园 .
中国专利 :CN221765661U ,2024-09-24
[9]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
刘晓红 .
中国专利 :CN218068210U ,2022-12-16
[10]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
张明进 ;
李旭 .
中国专利 :CN220626444U ,2024-03-19