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集成电路封装测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202021222107.8
申请日
:
2020-06-28
公开(公告)号
:
CN212542356U
公开(公告)日
:
2021-02-12
发明(设计)人
:
李志军
朱永斌
邱嘉龙
何祖辉
邱秀华
申请人
:
申请人地址
:
312000 浙江省绍兴市越城区平江路328号6幢一层
IPC主分类号
:
H01L2166
IPC分类号
:
代理机构
:
北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) 11589
代理人
:
曹玉清
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-02-12
授权
授权
共 50 条
[1]
一种集成电路封装测试装置
[P].
殷国海
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏芯缘半导体有限公司
江苏芯缘半导体有限公司
殷国海
.
中国专利
:CN221303489U
,2024-07-09
[2]
一种集成电路封装测试装置
[P].
孟晓南
论文数:
0
引用数:
0
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0
孟晓南
.
中国专利
:CN218445814U
,2023-02-03
[3]
一种集成电路封装测试装置
[P].
陈烈辉
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈烈辉
.
中国专利
:CN214672583U
,2021-11-09
[4]
一种集成电路封装测试装置
[P].
苏常
论文数:
0
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机构:
武汉云客数字科技有限公司
武汉云客数字科技有限公司
苏常
;
张佳欢
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
武汉云客数字科技有限公司
武汉云客数字科技有限公司
张佳欢
.
中国专利
:CN220729889U
,2024-04-05
[5]
一种集成电路封装测试装置
[P].
高宏玲
论文数:
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高宏玲
;
翟腾
论文数:
0
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翟腾
;
申武鑫
论文数:
0
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申武鑫
;
贾庆
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0
贾庆
.
中国专利
:CN215986363U
,2022-03-08
[6]
一种集成电路封装测试装置
[P].
陈益群
论文数:
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陈益群
;
袁泉
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袁泉
;
黄旭超
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0
黄旭超
.
中国专利
:CN215496633U
,2022-01-11
[7]
一种集成电路封装测试装置
[P].
周文
论文数:
0
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0
周文
;
步新祥
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步新祥
;
牛云峰
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牛云峰
.
中国专利
:CN217112615U
,2022-08-02
[8]
一种集成电路封装测试装置
[P].
袁园
论文数:
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机构:
象朵创芯微电子(苏州)有限公司
象朵创芯微电子(苏州)有限公司
袁园
.
中国专利
:CN221765661U
,2024-09-24
[9]
一种集成电路封装测试装置
[P].
刘晓红
论文数:
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刘晓红
.
中国专利
:CN218068210U
,2022-12-16
[10]
一种集成电路封装测试装置
[P].
张明进
论文数:
0
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机构:
深圳市未来智能技术服务有限公司
深圳市未来智能技术服务有限公司
张明进
;
李旭
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机构:
深圳市未来智能技术服务有限公司
深圳市未来智能技术服务有限公司
李旭
.
中国专利
:CN220626444U
,2024-03-19
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