一种集成电路封装测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202321852657.1
申请日
2023-07-14
公开(公告)号
CN220729889U
公开(公告)日
2024-04-05
发明(设计)人
苏常 张佳欢
申请人
武汉云客数字科技有限公司
申请人地址
430070 湖北省武汉市东湖新技术开发区关山二路金石凯激光工业园1幢1楼
IPC主分类号
G01N3/12
IPC分类号
G01N3/02
代理机构
深圳经纬创新知识产权代理有限公司 44875
代理人
惠银银
法律状态
授权
国省代码
河北省 石家庄市
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共 50 条
[1]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
高宏玲 ;
翟腾 ;
申武鑫 ;
贾庆 .
中国专利 :CN215986363U ,2022-03-08
[2]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
陈烈辉 .
中国专利 :CN214672583U ,2021-11-09
[3]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
刘晓红 .
中国专利 :CN218068210U ,2022-12-16
[4]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
袁园 .
中国专利 :CN221765661U ,2024-09-24
[5]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
殷国海 .
中国专利 :CN221303489U ,2024-07-09
[6]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
杨思广 .
中国专利 :CN220913291U ,2024-05-07
[7]
集成电路封装测试装置 [P]. 
李志军 ;
朱永斌 ;
邱嘉龙 ;
何祖辉 ;
邱秀华 .
中国专利 :CN212542356U ,2021-02-12
[8]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
孟晓南 .
中国专利 :CN218445814U ,2023-02-03
[9]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
陈益群 ;
袁泉 ;
黄旭超 .
中国专利 :CN215496633U ,2022-01-11
[10]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
周文 ;
步新祥 ;
牛云峰 .
中国专利 :CN217112615U ,2022-08-02