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一种集成电路封装测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202321852657.1
申请日
:
2023-07-14
公开(公告)号
:
CN220729889U
公开(公告)日
:
2024-04-05
发明(设计)人
:
苏常
张佳欢
申请人
:
武汉云客数字科技有限公司
申请人地址
:
430070 湖北省武汉市东湖新技术开发区关山二路金石凯激光工业园1幢1楼
IPC主分类号
:
G01N3/12
IPC分类号
:
G01N3/02
代理机构
:
深圳经纬创新知识产权代理有限公司 44875
代理人
:
惠银银
法律状态
:
授权
国省代码
:
河北省 石家庄市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-04-05
授权
授权
共 50 条
[1]
一种集成电路封装测试装置
[P].
高宏玲
论文数:
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高宏玲
;
翟腾
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翟腾
;
申武鑫
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申武鑫
;
贾庆
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贾庆
.
中国专利
:CN215986363U
,2022-03-08
[2]
一种集成电路封装测试装置
[P].
陈烈辉
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陈烈辉
.
中国专利
:CN214672583U
,2021-11-09
[3]
一种集成电路封装测试装置
[P].
刘晓红
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刘晓红
.
中国专利
:CN218068210U
,2022-12-16
[4]
一种集成电路封装测试装置
[P].
袁园
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机构:
象朵创芯微电子(苏州)有限公司
象朵创芯微电子(苏州)有限公司
袁园
.
中国专利
:CN221765661U
,2024-09-24
[5]
一种集成电路封装测试装置
[P].
殷国海
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机构:
江苏芯缘半导体有限公司
江苏芯缘半导体有限公司
殷国海
.
中国专利
:CN221303489U
,2024-07-09
[6]
一种集成电路封装测试装置
[P].
杨思广
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机构:
杭州梅峰电子有限公司
杭州梅峰电子有限公司
杨思广
.
中国专利
:CN220913291U
,2024-05-07
[7]
集成电路封装测试装置
[P].
李志军
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李志军
;
朱永斌
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朱永斌
;
邱嘉龙
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邱嘉龙
;
何祖辉
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何祖辉
;
邱秀华
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邱秀华
.
中国专利
:CN212542356U
,2021-02-12
[8]
一种集成电路封装测试装置
[P].
孟晓南
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孟晓南
.
中国专利
:CN218445814U
,2023-02-03
[9]
一种集成电路封装测试装置
[P].
陈益群
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陈益群
;
袁泉
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袁泉
;
黄旭超
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黄旭超
.
中国专利
:CN215496633U
,2022-01-11
[10]
一种集成电路封装测试装置
[P].
周文
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周文
;
步新祥
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步新祥
;
牛云峰
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牛云峰
.
中国专利
:CN217112615U
,2022-08-02
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