一种新型集成电路内部电容测试治具及电容测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201720426660.5

申请日：

2017-04-21

公开(公告)号：

CN206863062U

公开(公告)日：

2018-01-09

发明(设计)人：

周学志谢清冬

申请人：

申请人地址：

341600 江西省赣州市信丰县工业园区城北大道

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R2726 G01R3127

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法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-01-09	授权	授权
2021-04-09	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20170421 授权公告日:20180109 终止日期:20200421

共 50 条

[1]

集成电路内部电容测试装置 [P].

蒋鹰 ;

董小东 ;

辜芳义 .

中国专利 :CN202057729U ,2011-11-30

[2]

集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27

[3]

一种集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

周学志 ;

谢清冬 .

中国专利 :CN207067178U ,2018-03-02

[4]

新型集成电路测试装置 [P].

林峰 ;

姜龙 .

中国专利 :CN221199857U ,2024-06-21

[5]

集成电路测试装置 [P].

韩学森 ;

张志伟 ;

陈乃溪 ;

苏康宏 ;

沈飞飞 .

中国专利 :CN221826397U ,2024-10-11

[6]

集成电路测试装置 [P].

段超毅 .

中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08

[7]

集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN207717928U ,2018-08-10

[8]

集成电路测试装置 [P].

刘丰 ;

吕方艳 ;

梁晓梅 ;

刘应明 .

中国专利 :CN208795255U ,2019-04-26

[9]

集成电路测试装置 [P].

王国华 .

中国专利 :CN202443037U ,2012-09-19

[10]

集成电路测试装置 [P].

陈健 ;

陆人杰 .

中国专利 :CN217404469U ,2022-09-09

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