集成电路测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201711158396.2
申请日
2017-11-20
公开(公告)号
CN108008155A
公开(公告)日
2018-05-08
发明(设计)人
商亚锋
申请人
申请人地址
214500 江苏省泰州市靖江市马桥镇经伦路西1号
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路测试装置 [P]. 
庄海峰 .
中国专利 :CN1508859A ,2004-06-30
[2]
集成电路测试装置 [P]. 
刘甲全 .
中国专利 :CN102466777A ,2012-05-23
[3]
集成电路测试装置 [P]. 
韩学森 ;
张志伟 ;
陈乃溪 ;
苏康宏 ;
沈飞飞 .
中国专利 :CN221826397U ,2024-10-11
[4]
集成电路测试装置 [P]. 
段超毅 .
中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08
[5]
集成电路测试装置 [P]. 
王国华 ;
谢伟 .
中国专利 :CN207717928U ,2018-08-10
[6]
集成电路测试装置 [P]. 
刘丰 ;
吕方艳 ;
梁晓梅 ;
刘应明 .
中国专利 :CN208795255U ,2019-04-26
[7]
集成电路测试装置 [P]. 
王国华 .
中国专利 :CN202443037U ,2012-09-19
[8]
集成电路测试装置 [P]. 
邢思波 .
中国专利 :CN113484736B ,2025-09-19
[9]
集成电路测试装置 [P]. 
陈健 ;
陆人杰 .
中国专利 :CN217404469U ,2022-09-09
[10]
集成电路测试装置 [P]. 
邢思波 .
中国专利 :CN215493976U ,2022-01-11