集成电路测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010562837.7

申请日：

2010-11-23

公开(公告)号：

CN102466777A

公开(公告)日：

2012-05-23

发明(设计)人：

刘甲全

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹市科学工业园区力行路23号2楼

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R313177

代理机构：

中国商标专利事务所有限公司 11234

代理人：

万学堂;周伟明

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-07-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101282314268 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2010105628377 申请日:20101123
2014-07-30	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101703292252 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2010105628377 申请公布日:20120523
2012-05-23	公开	公开

共 50 条

[1]

集成电路测试装置 [P].

韩美金 ;

万光远 ;

陈娟 ;

黄宇峰 .

中国专利 :CN220552944U ,2024-03-01

[2]

集成电路测试装置 [P].

雷登云 ;

邹坚 ;

王力纬 ;

侯波 ;

黄云 .

中国专利 :CN111175635B ,2020-05-19

[3]

集成电路管脚测试装置 [P].

肖毅 ;

杨嘉毅 ;

高进 .

中国专利 :CN105510763B ,2016-04-20

[4]

集成电路输出端测试装置及集成电路 [P].

高国重 ;

齐子初 .

中国专利 :CN110118922B ,2019-08-13

[5]

集成电路输入端测试装置及集成电路 [P].

高国重 ;

齐子初 .

中国专利 :CN110118921A ,2019-08-13

[6]

集成电路测试装置 [P].

商亚锋 .

中国专利 :CN108008155A ,2018-05-08

[7]

集成电路测试装置 [P].

韩学森 ;

张志伟 ;

陈乃溪 ;

苏康宏 ;

沈飞飞 .

中国专利 :CN221826397U ,2024-10-11

[8]

集成电路测试装置 [P].

段超毅 .

中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08

[9]

集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN207717928U ,2018-08-10

[10]

集成电路测试装置 [P].

刘丰 ;

吕方艳 ;

梁晓梅 ;

刘应明 .

中国专利 :CN208795255U ,2019-04-26

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