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集成电路测试装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201911425270.6
申请日：
2019-12-31
公开(公告)号：
CN111175635B
公开(公告)日：
2020-05-19
发明(设计)人：
雷登云
邹坚
王力纬
侯波
黄云
申请人：
申请人地址：
511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人：
周玲
法律状态：
著录事项变更
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-06-05 | 著录事项变更 | 著录事项变更 IPC(主分类):G01R 31/28 变更事项:申请人 变更前:中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） 变更后:中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） 变更事项:地址 变更前:510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号 变更后:511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号 |
| 2020-05-19 | 公开 | 公开 |
| 2021-12-03 | 授权 | 授权 |
| 2020-06-12 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20191231 |