集成电路测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610149891.2

申请日：

2006-10-31

公开(公告)号：

CN101173977A

公开(公告)日：

2008-05-07

发明(设计)人：

陈柏璋

申请人：

申请人地址：

中国台湾台北县新店市宝桥路233－1号2楼

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R31303 G01R31317 G01R313177 G01R313193 G05B2302

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所

代理人：

刘新宇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-07-02	实质审查的生效	实质审查的生效
2013-03-20	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101537595963 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2006101498912 申请公布日:20080507
2008-05-07	公开	公开

共 50 条

[1]

集成电路测试装置 [P].

雷登云 ;

邹坚 ;

王力纬 ;

侯波 ;

黄云 .

中国专利 :CN111175635B ,2020-05-19

[2]

集成电路测试装置 [P].

商亚锋 .

中国专利 :CN108008155A ,2018-05-08

[3]

集成电路测试装置 [P].

刘甲全 .

中国专利 :CN102466777A ,2012-05-23

[4]

集成电路测试装置 [P].

韩学森 ;

张志伟 ;

陈乃溪 ;

苏康宏 ;

沈飞飞 .

中国专利 :CN221826397U ,2024-10-11

[5]

集成电路测试装置 [P].

段超毅 .

中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08

[6]

集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN207717928U ,2018-08-10

[7]

集成电路测试装置 [P].

刘丰 ;

吕方艳 ;

梁晓梅 ;

刘应明 .

中国专利 :CN208795255U ,2019-04-26

[8]

集成电路测试装置 [P].

王国华 .

中国专利 :CN202443037U ,2012-09-19

[9]

集成电路测试装置 [P].

邢思波 .

中国专利 :CN113484736B ,2025-09-19

[10]

集成电路测试装置 [P].

陈健 ;

陆人杰 .

中国专利 :CN217404469U ,2022-09-09

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