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集成电路测试装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110909287.X
申请日：
2021-08-09
公开(公告)号：
CN113484736B
公开(公告)日：
2025-09-19
发明(设计)人：
邢思波
申请人：
日月新半导体（苏州）有限公司
申请人地址：
215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287
代理人：
林斯凯
法律状态：
授权
国省代码：
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-19 授权 授权
共 50 条
[1]
集成电路测试装置 [P]. 
邢思波 .
中国专利 :CN215493976U ,2022-01-11
[2]
集成电路测试装置 [P]. 
邢思波 .
中国专利 :CN113484736A ,2021-10-08
[3]
集成电路测试座及集成电路测试装置 [P]. 
程振 ;
李志雄 ;
刘旭 ;
王平 ;
燕祖德 .
中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08
[4]
集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P]. 
王国华 ;
谢伟 .
中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27
[5]
集成电路strip测试装置 [P]. 
沈飞飞 ;
张志伟 ;
刘小飞 ;
苏康宏 ;
韩学森 ;
陈乃溪 .
中国专利 :CN223092030U ,2025-07-11
[6]
集成电路封装测试装置 [P]. 
李志军 ;
朱永斌 ;
邱嘉龙 ;
何祖辉 ;
邱秀华 .
中国专利 :CN212542356U ,2021-02-12
[7]
集成电路芯片测试装置 [P]. 
赖榕弟 .
中国专利 :CN212905288U ,2021-04-06
[8]
集成电路测试装置 [P]. 
商亚锋 .
中国专利 :CN108008155A ,2018-05-08
[9]
集成电路测试装置 [P]. 
刘甲全 .
中国专利 :CN102466777A ,2012-05-23
[10]
集成电路测试装置 [P]. 
韩学森 ;
张志伟 ;
陈乃溪 ;
苏康宏 ;
沈飞飞 .
中国专利 :CN221826397U ,2024-10-11
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