集成电路管脚测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610104016.6

申请日：

2016-02-25

公开(公告)号：

CN105510763B

公开(公告)日：

2016-04-20

发明(设计)人：

肖毅杨嘉毅高进

申请人：

申请人地址：

519080 广东省珠海市高新区唐家湾镇科技二路9号

IPC主分类号：

G01R3102

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

郑小粤;李双皓

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-05-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101660898069 IPC(主分类):G01R 31/02 专利申请号:2016101040166 申请日:20160225
2018-08-10	授权	授权
2016-04-20	公开	公开

共 50 条

[1]

集成电路测试装置 [P].

刘甲全 .

中国专利 :CN102466777A ,2012-05-23

[2]

集成电路测试装置 [P].

张立国 .

中国专利 :CN205484691U ,2016-08-17

[3]

集成电路测试装置 [P].

韩美金 ;

万光远 ;

陈娟 ;

黄宇峰 .

中国专利 :CN220552944U ,2024-03-01

[4]

集成电路功能测试装置 [P].

徐子昆 .

中国专利 :CN204903574U ,2015-12-23

[5]

集成电路输出端测试装置及集成电路 [P].

高国重 ;

齐子初 .

中国专利 :CN110118922B ,2019-08-13

[6]

集成电路输入端测试装置及集成电路 [P].

高国重 ;

齐子初 .

中国专利 :CN110118921A ,2019-08-13

[7]

集成电路测试装置 [P].

商亚锋 .

中国专利 :CN108008155A ,2018-05-08

[8]

集成电路测试装置 [P].

韩学森 ;

张志伟 ;

陈乃溪 ;

苏康宏 ;

沈飞飞 .

中国专利 :CN221826397U ,2024-10-11

[9]

集成电路测试装置 [P].

段超毅 .

中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08

[10]

集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN207717928U ,2018-08-10

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